[发明专利]一种集成电路的器件参数优化方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，尤其涉及一种集成电路的器件参数优化方法。

背景技术

集成电路的器件参数优化是集成电路设计流程中的一个重要而又费时的阶段，集成电路的最终实际电学性能不仅取决于集成电路的器件参数值，还取决于器件本身的寄生效应、器件之间的寄生效应、连线本身的寄生效应、连线之间的寄生效应、以及连线和器件之间的寄生效应。

目前，集成电路的器件参数优化方法流程如图1所示。其中，步骤S11提取集成电路的寄生参数的操作需要在当前的物理版图中，采用现有的软件工具，调用复杂的有限元方法、边界元方法、或多极点方法计算获取寄生参数，这个步骤由于计算方法复杂会占用较长的时间。并且，在集成电路的器件参数优化过程中，器件参数的微调次数成千上万，甚至数十万以上。如此多的次数内调用现有软件工具提取寄生参数会耗费过长时间，导致集成电路的器件参数优化自动化难以实现。

此外，现有的集成电路的器件参数优化方法中，为了得到准确的器件参数优化结果，需要在评价每一次器件参数微调的定量结果的时候，精确考虑调整器件参数值后的电路设计在的物理版图上的寄生效应，所以每调整一次器件参数值，需要对物理版图作相应调整（如图1所示的步骤S14）。这样反复多次调整物理版图也会耗费过长时间，导致集成电路的器件参数优化自动化难以实现。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种集成电路的器件参数优化方法，旨在解决集成电路的器件参数优化过程中寄生参数的获取因依赖于物理版图和寄生参数提取工具而耗时过长导致集成电路的器件参数优化自动化难以实现的问题。

为了解决上述问题，本发明采用如下技术方案：

一种集成电路的器件参数优化方法，包括，

A、提取集成电路的寄生参数初始值；

B、依据器件参数初始值和所述寄生参数初始值，构建第一函数，所述第一函数表示寄生参数值与器件参数值之间的关系；

C、依据寄生参数值和器件参数值，确定所述集成电路的电路参数，并判断所述电路参数是否满足预定要求，如果否，调整所述器件参数值；

D、依据调整后的器件参数值和所述第一函数得到寄生参数计算值，返回步骤C；

其中，所述寄生参数值为所述寄生参数初始值或所述寄生参数计算值；所述器件参数值为所述器件参数初始值或所述调整后的器件参数值。

进一步地，所述步骤B具体包括：

获取器件外框尺寸初始值，所述器件外框为集成电路包括的各器件的外接图形边框；

依据所述器件外框尺寸初始值和所述器件参数初始值，构建第二函数，所述第二函数表示器件外框尺寸值与所述器件参数值之间的关系；其中，所述器件外框尺寸值包括器件外框尺寸初始值；

依据所述第二函数和所述器件参数值，获取所述器件外框尺寸值；

依据所述器件外框尺寸值和所述寄生参数初始值，构建所述第一函数。

进一步地，所述寄生参数包括寄生电阻，所述依据所述器件外框尺寸值和所述寄生参数初始值，构建所述第一函数，具体包括，

选定集成电路中的任意一条互连线，所述互连线包括若干段第一方向的直线段和若干段第二方向的直线段，其中，第一方向和第二方向互相垂直；

确定与每一段所述直线段相关的所有器件；

确定每个与所述每一段所述直线段相关的器件对与其相对应的直线段的长度贡献初始值；

根据所述每个与所述每一段所述直线段相关的器件对与其相对应的直线段的长度贡献初始值和该相关器件的外框尺寸初始值，构建第三函数，所述第三函数表示每个与所述每一段所述直线段相关的器件对与其相对应的直线段的长度贡献与该器件外框尺寸值之间的关系；其中，所述长度贡献包括长度贡献初始值；

根据所述第三函数和与所述直线段相关的所有器件，确定与该直线段相关的所有器件对该直线段的长度贡献总和；

根据与每段直线段相关的所有器件对该直线段的长度贡献总和和所述互连线包括的所有直线段，构建第四函数，所述第四函数表示互连线长度与其包括的所有直线段对应的所有相关器件的外框尺寸之间的关系；

根据所述第四函数和所有跳层过孔对所述互连线的寄生电阻的贡献以及所述寄生参数初始值，构建以所述器件外框尺寸为参量的第一函数。

进一步地，所述器件的外接图形为所述器件的最小外接矩形。

进一步地，所述器件外框尺寸值包括第一方向的外框尺寸值XL和第二方向的外框尺寸值YL，所述第二函数为：