[发明专利]偏振光感应型测光装置有效

专利信息
申请号: 201310544585.9 申请日: 2013-11-06
公开(公告)号: CN103852168A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 大泽贤太郎;井手达朗;向尾将树 申请(专利权)人: 日立视听媒体股份有限公司
主分类号: G01J4/02 分类号: G01J4/02;G01N21/23
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 高科
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 偏振光 感应 测光 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及偏振光感应型测光装置。 

背景技术

近年来,用光取得反映测定对象的表面结构、内部结构的图像的光学相干断层扫描技术(OCT:Optical Coherence Tomography)引人注目(非专利文献1、非专利文献2)。OCT不具有对人体的危害性,所以尤其在医疗领域、生物学领域的应用备受期待,在眼科领域中形成眼底、角膜等的图像的装置已进入实用化阶段。 

生物体组织具有双折射性,例如人的眼球的玻璃体具有由双折射方向不同的多个层层叠而成的层结构。但是,这些层具有相同的折射率,所以在测定生物体组织的折射率分布的通常的OCT中不能把其结构可视化。作为用来把这样的结构可视化的技术,正在开发偏振光感应型OCT(专利文献1)。 

现有技术文献 

专利文献1:日本特开2004-28970号公报 

非专利文献1:Medical Photonics No.1(2010),pp.29-33 

非专利文献2:Medical Photonics No.7(2011),pp.58-64 

发明内容

(发明要解决的问题) 

在像专利文献1中所示那样的现有的偏振光感应型OCT装置中,存在为了取得测定对象的偏振光信息(Mueller矩阵,即穆勒矩阵)而必须四次改变入射到测定对象的检查光的偏振状态、四次改变参照光的偏振状态进行测定,必须进行共16次测定的问题。 

(用来解决问题的方案) 

本发明利用光分支部件把从光源射出的光二分支成照射到测定对象的检查光和不照射到测定对象的参照光,利用λ/2波片等的偏振光调整部件把检查光的偏振状态调整成p偏振或s偏振状态,利用偏振光分离部件把被测定对象反射或散射的检查光(以下,称为信号光)分离成p偏振分量和s偏振分量,利用第一干涉光学系统从信号光的p偏振分量和参照光生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光,利用第二干涉光学系统从信号光的s偏振分量和参照光生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光,利用第一检测部检测由第一干涉光学系统生成的干涉光,利用第二检测部检测由第二干涉光学系统生成的干涉光。 

由此,通过一次测定就可以取得信号光电场的p偏振分量和s偏振分量的振幅的绝对值以及p偏振分量和s偏振分量的相位差,所以可以以比现有技术少的测定次数取得测定对象的偏振光信息。 

通过具有检查光扫描部,一边扫描对测定对象的检查光的照射位置一边在各位置取得测定对象的偏振光信息,可以取得沿检查对象的检查线的一维像或检查面的二维像。检查光扫描部可以利用驱动电流镜、物镜的致动器构成。 

作为其它方式,由第一干涉光学系统或第二干涉光学系统生成的干涉光是四个,四个干涉光相互干涉的相位逐个相差约90度,用电流差动型的差动检测器检测相位逐个相差约180度的干涉光对。 

由此,检测器难以饱和,所以可以增大参照光的强度,可以确保高的SN比。 

作为其它方式,用能卸下的两条以上的偏振保持光纤连接光观察单元、光源和光检测单元;光观察单元具有光分支部件、偏振光调整部件和偏振光分离部件;光检测单元具有:第一、第二干涉光学系统和第一、第二检测部。 

由此,在测定人体等大的测定对象时,只使光观察单元接近测定对象就可以进行测定,所以测定变得容易。 

作为其它方式,光分支部件和偏振光分离部件用一个偏振光分离元件实现,利用光循环器等的返回光利用部件将返回光源方向的信号光和参照光向第一干涉光学系统或第二干涉光学系统引导。 

由此,可以减少测光装置的部件个数,可以用更简单的构成把信号光和参照光合成。 

作为其它方式,第一干涉光学系统和第二干涉光学系统用一个干涉光学系统实现。 

由此,可以进一步减少测光装置的部件个数。 

作为其它方式,第一检测部和第二检测部是同一检测部,使用光开关、光闸等的光切换部件使由上述第一干涉光学系统生成的干涉光向检测部入射的时间段与由第二干涉光学系统生成的干涉光向检测部入射的时间段不同。 

由此,可以减少测光装置的检测器的数目。 

(发明的效果) 

根据本发明,可以提供能以比现有技术少的测定次数取得测定对象的偏振光信息的偏振光感应型测光装置。 

上述以外的问题、构成和效果可以通过以下的实施方式的说明更清楚地理解。 

附图说明

图1是示出本发明的测光装置的例子的图。 

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