[发明专利]一种AMT系统温度冲击试验方法

权利要求书

1.一种AMT系统温度冲击试验方法，其特征在于：将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中；然后将温度调节到低温-40±2℃和高温保温+85±2℃分别30分钟后，按照图1进行两个循环的温度冲击，使产品在此温度循环冲击时t1=85℃、t2=-40℃分别为30分钟，升温速率V1为3℃/min，降温速率V2为1℃/min；试验结束后置室温下2小时后再对该产品进行性能和功能的检测，并进行记录；

   所述试验条件为：

a) 环境温度25±5℃；

b) 交流电源电压220±2V50Hz；

c) 交流电源电压380±2V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

2.如权利要求1所述的一种AMT系统温度冲击试验方法，其特征在于：所述试验条件具体为：

a) 环境温度25℃；

b) 交流电源电压220V50Hz；

c) 交流电源电压380V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

3.如权利要求1所述的一种AMT系统温度冲击试验方法，其特征在于：

所述试验设备要求为：

    所述试验箱型号为：GDW/LX-010L，其性能指标如下：

a) 温度范围：-40℃~+150℃；

b) 温度波动度：±0.5℃；

c) 温度均匀度：±2℃；

d) 降温速率：0.7℃~1℃；

e) 升温速率：2℃~3℃；

f) 噪音：Db＜65；

g) 电源：AC380V/50Hz；

h) 工作尺寸：1000×1000×1000。