[发明专利]一种AMT系统温度冲击试验方法

说明书

技术领域

本发明属于AMT系统温度环境试验技术领域，具体涉及一种AMT系统温度冲击试验方法。

背景技术

AMT系统温度环境试验主要是检测那些要求在整个温度环境下都要通电运行的设备。温度环境试验要达到以下主要试验目的：

a) 试验结果指导AMT系统产品的设计改进；

b) 仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运行、运输或贮存的能力。

温度冲击试验目的：

本试验方法用来进行AMT系统产品、组件或元器件试验样品的温度冲击试验，试验样品在高低温冲击条件下考核产品的质量稳定性，并且要求试验样品在整个试验过程中不通电。  

发明内容

本发明的目的是提供一种AMT系统温度冲击试验方法

为此，本发明提供了一种AMT系统温度冲击试验方法，将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中；然后将温度调节到低温-40±2℃和高温保温+85±2℃分别30分钟后，按照图1进行两个循环的温度冲击，使产品在此温度循环冲击时t1=85℃、t2=-40℃分别为30分钟，升温速率V1为3℃/min，降温速率V2为1℃/min；试验结束后置室温下2小时后再对该产品进行性能和功能的检测，并进行记录；

   所述试验条件为：

a) 环境温度25±5℃；

b) 交流电源电压220±2V50Hz；

c) 交流电源电压380±2V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

上述试验条件具体为：

a) 环境温度25℃；

b) 交流电源电压220V50Hz；

c) 交流电源电压380V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

上述试验设备要求为：

    所述试验箱型号为：GDW/LX-010L，其性能指标如下：

a) 温度范围：-40℃~+150℃；

b) 温度波动度：±0.5℃；

c) 温度均匀度：±2℃；

d) 降温速率：0.7℃~1℃；

e) 升温速率：2℃~3℃；

f) 噪音：Db＜65；

g) 电源：AC380V/50Hz；

h) 工作尺寸：1000×1000×1000。

 本发明的有益效果：本发明提供的这种AMT系统温度冲击试验方法，将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中；然后将温度调节到低温-40±2℃和高温保温+85±2℃分别30分钟后，按照图1进行两个循环的温度冲击，使产品在此温度循环冲击时t1=85℃、t2=-40℃分别为30分钟，升温速率V1为3℃/min，降温速率V2为1℃/min；试验结束后置室温下2小时后再对该产品进行性能和功能的检测，并进行记录；

   所述试验条件为：

a) 环境温度25±5℃；

b) 交流电源电压220±2V50Hz；

c) 交流电源电压380±2V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

本实验是在一定的试验条件下，对AMT系统进行温度冲击试验，主要测试点是模拟当本系统在外界环境温度冲击情况下其工作是否正常。试验同时确认了本系统中机械和电路板在温度方面是否能达到要求。本测试模拟将AMT系统置于外界环境中，进一步比较切合实际的基于温度考量了整个系统。

以下将结合附图对本发明做进一步详细说明。

图1是本试验的温度循环冲击曲线。

具体实施方式

实施例1：

一种AMT系统温度冲击试验方法，将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中；然后将温度调节到低温-40±2℃和高温保温+85±2℃分别30分钟后，按照图1进行两个循环的温度冲击，使产品在此温度循环冲击时t1=85℃、t2=-40℃分别为30分钟，升温速率V1为3℃/min，降温速率V2为1℃/min；试验结束后置室温下2小时后再对该产品进行性能和功能的检测，并进行记录；

   所述试验条件为：

a) 环境温度25±5℃；

b) 交流电源电压220±2V50Hz；

c) 交流电源电压380±2V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。