[发明专利]火花塞的检查方法及火花塞的制造方法有效
申请号: | 201310585603.8 | 申请日: | 2013-11-19 |
公开(公告)号: | CN103840371B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 弓野次郎 | 申请(专利权)人: | 日本特殊陶业株式会社 |
主分类号: | H01T13/60 | 分类号: | H01T13/60;H01T21/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 李亚,陆锦华 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 火花塞 检查 方法 制造 | ||
1.一种火花塞的检查方法,该火花塞具有:
筒状的绝缘体,具有沿轴线方向延伸的轴孔;
中心电极,被插通到所述轴孔的前端侧;以及
筒状的主体配件,被配置在所述绝缘体的外周上,
所述火花塞具有由所述绝缘体的外周面和所述主体配件的内周面形成的、在前端侧开口的环状空间,
所述火花塞的检查方法的特征在于,
根据在对所述中心电极施加电压时所述绝缘体是否产生电气损坏,检查所述绝缘体的绝缘性能,
在对所述中心电极施加电压时,从所述轴线方向前端侧拍摄至少包括所述中心电极、所述绝缘体和所述环状空间的范围,根据所得到的摄像图像判别有无所述电气损坏,
根据基于所述摄像图像中包括所述绝缘体和所述环状空间的区域中的亮度的信息、和预先设定的阈值,判别有无所述电气损坏,
所述信息是指所述区域内的各像素的亮度,
根据所述各像素的亮度和所述阈值对所述区域进行二值化处理,得到二值化图像,并且,
计算在所述二值化图像中表示高亮度的部分的重心坐标,根据该重心坐标判别有无所述电气损坏。
2.一种火花塞的检查方法,该火花塞具有:
筒状的绝缘体,具有沿轴线方向延伸的轴孔;
中心电极,被插通到所述轴孔的前端侧;以及
筒状的主体配件,被配置在所述绝缘体的外周上,
所述火花塞具有由所述绝缘体的外周面和所述主体配件的内周面形成的、在前端侧开口的环状空间,
所述火花塞的检查方法的特征在于,
根据在对所述中心电极施加电压时所述绝缘体是否产生电气损坏,检查所述绝缘体的绝缘性能,
在对所述中心电极施加电压时,从所述轴线方向前端侧拍摄至少包括所述中心电极、所述绝缘体和所述环状空间的范围,根据所得到的摄像图像判别有无所述电气损坏,
根据基于所述摄像图像中包括所述绝缘体和所述环状空间的区域中的亮度的信息、和预先设定的阈值,判别有无所述电气损坏,
所述信息是指所述区域内的各像素的亮度,
根据所述各像素的亮度和所述阈值对所述区域进行二值化处理,得到二值化图像,并且,
根据在所述二值化图像中表示高亮度的部分是否从所述中心电极所处的范围连续到所述环状空间所处的范围,判别有无所述电气损坏。
3.一种火花塞的检查方法,该火花塞具有:
筒状的绝缘体,具有沿轴线方向延伸的轴孔;
中心电极,被插通到所述轴孔的前端侧;以及
筒状的主体配件,被配置在所述绝缘体的外周上,
所述火花塞具有由所述绝缘体的外周面和所述主体配件的内周面形成的、在前端侧开口的环状空间,
所述火花塞的检查方法的特征在于,
根据在对所述中心电极施加电压时所述绝缘体是否产生电气损坏,检查所述绝缘体的绝缘性能,
在对所述中心电极施加电压时,从所述轴线方向前端侧拍摄至少包括所述中心电极、所述绝缘体和所述环状空间的范围,根据所得到的摄像图像判别有无所述电气损坏,
根据基于所述摄像图像中包括所述绝缘体和所述环状空间的区域中的亮度的信息、和预先设定的阈值,判别有无所述电气损坏,
所述信息是指所述区域内的平均亮度,
通过将所述平均亮度和所述阈值进行比较,判别有无所述电气损坏。
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