[发明专利]检测调色剂图像的状态的检测装置及其去除异物的方法有效
申请号: | 201310608441.5 | 申请日: | 2013-11-26 |
公开(公告)号: | CN103838113B | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 朴殷锡;吴宗哲 | 申请(专利权)人: | 惠普打印机韩国有限公司 |
主分类号: | G03G15/08 | 分类号: | G03G15/08;G03G21/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王艳娇;李云霞 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 调色 图像 状态 装置 及其 去除 异物 方法 | ||
1.一种检测装置,包括:
检测器,具有能够允许光通过的光窗,并经由光窗检测在图像承载构件上形成的调色剂图像的状态;
清洁器,去除附着于光窗的表面的污染物质,
其中,清洁器包括:
吸附单元,由传导材料形成,并在与光窗的表面接触的同时往复运动,
电压施加单元,向吸附单元施加用于吸附污染物质的第一电压。
2.如权利要求1所述的检测装置,其中,吸附单元能够被移动到与光窗接触的第一位置以及释放与光窗的接触的第二位置,
当吸附单元位于第一位置时,电压施加单元向吸附单元施加用于吸附污染物质的第一电压。
3.如权利要求2所述的检测装置,其中,清洁器还包括收集污染物质的污染物质收集单元。
4.如权利要求3所述的检测装置,其中,污染物质收集单元包括与吸附单元的移动路径交叉并与吸附单元接触所凸起的接触凸起。
5.如权利要求3所述的检测装置,其中,当吸附单元位于第二位置时,电压施加单元向吸附单元施加用于从吸附单元分离污染物质的第二电压。
6.如权利要求5所述的检测装置,其中,当吸附单元位于第二位置时,电压施加单元向污染物质收集单元施加用于将污染物质收集到污染物质收集单元中的第三电压。
7.如权利要求5所述的检测装置,其中,电压施加单元向吸附单元施加用于防止污染物质附着于光窗的第四电压。
8.如权利要求1所述的检测装置,还包括:
包含所述检测器的外壳,所述外壳在光窗与图像承载构件之间具有开口以允许光通过;
遮板,打开和关闭所述开口。
9.如权利要求8所述的检测装置,其中,吸附单元被安装在遮板的面向检测器的表面上,
其中,吸附单元通过遮板的移动来去除附着于光窗的污染物质。
10.一种包括权利要求1至权利要求9之一所述的检测装置的图像形成设备。
11.一种由检测在图像承载构件上形成的调色剂图像的状态的检测装置执行的去除污染物质的方法,所述方法包括:
向在与光窗接触的同时往复运动的吸附单元施加用于吸附污染物质的第一电压,以吸附附着于检测器的光窗的污染物质;
通过使用在吸附单元与污染物质之间产生的电学基本力而允许污染物质被吸附到吸附单元上。
12.如权利要求11所述的方法,还包括:在允许污染物质被吸附到吸附单元上之后,分离吸附到吸附单元上的污染物质。
13.如权利要求12所述的方法,其中,在分离污染物质的步骤中,向吸附单元施加用于分离吸附到吸附单元上的污染物质的第二电压。
14.如权利要求13所述的方法,其中,在分离污染物质的步骤中,向污染物质收集单元施加用于将污染物质收集到污染物质收集单元中的第三电压。
15.如权利要求13所述的方法,其中,在分离污染物质之后,向吸附单元施加用于防止污染物质附着于光窗的第四电压。
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