[发明专利]基于双圆域的触摸屏采样优化方法有效
申请号: | 201310610385.9 | 申请日: | 2013-11-26 |
公开(公告)号: | CN103605441B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 范少卓;李培明;吕瑞明;李琦;杨磊;柳素华 | 申请(专利权)人: | 厦门雅迅网络股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 泉州市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 | 代理人: | 李伊飏 |
地址: | 361000 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸屏 圆域 采样 分类处理 平面域 优化 正态分布 采样平面 采样数据 驱动模块 拖拽动作 硬件差异 采样点 内圆 外圆 分割 引入 应用 | ||
1.一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法,应用于触摸屏的采样驱动模块的驱动程序中,其包括以下步骤:
步骤1:需要首先根据硬件差异选择双圆的半径,包括内圆半径r
步骤2:通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域,对多个区域内的采样点进行分类处理,其处理过程包括:
步骤2A:利用每次采样开始的n次数据确认触摸屏使用过程的初始圆心o(x
步骤2B:令后续采样数据坐标为B(x
步骤2C:根据d
若d
若r
若d
步骤2D:以新圆心为基准,重复步骤2B和步骤2C,直至一次触摸屏点击过程结束;
所述内圆半径r
步骤1A:点击触摸屏某个点,采集n个点的位置数据,令第m个点的坐标的值表示为:m(x
步骤1B:对采集到的n个点进行求平均运算,找到中心位置
步骤1C:计算各个点距离o点的平均距离
步骤1D:计算得到内圆半径
所述外圆半径r
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