[发明专利]基于双圆域的触摸屏采样优化方法

说明书

本发明公开一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法，应用于触摸屏的采样驱动模块中，其包括以下步骤：步骤1：首先根据硬件差异选择双圆的半径，包括内圆半径确认和外圆半径；步骤2：通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域，对不同区域内的采样点进行分类处理。本发明将平面域优化引入了触摸屏采样优化当中，使用双圆域对平面域进行分割，从而对实现了对采样数据的分类处理；使用正态分布确定圆域半径，使圆域半径确认更加合理，有效的区分了静态点击和拖拽动作。

技术领域

本发明涉及触摸屏校正方法，具体涉及一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法。

背景技术

由于工艺限制，不管是电容屏还是电阻屏，由硬件采样上来的数据不可避免的都有一定的抖动。电容屏还会出现一定概率的“飞点”现象（采集到的数据忽然跳到屏幕边缘的现象）。如果不对数据进行优化就使用的话，会出现图标抖动，划线毛刺等现象，严重影响用户的体验感。

现在触摸屏采样优化方案有很多，但是大多是基于时域平均算法的，无法在平面域对抖动范围做判断，而且对于“飞点”的处理也不太理想。

发明内容

因此，针对上述的问题，本发明提出一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法，可以在平面域上实现对抖动的滤波，并一并解决“飞点”问题，而且可以和时域平均算法达到完美兼容。

为了解决上述技术问题，本发明所采用的思路是，将整个触摸屏作为坐标平面，以每次点击动作前n次采样平均值作为圆心，以静态点击硬件采样精度最大值和快速拖拽动作最大值为半径，将坐标平面划分为多个域，并对数据进行分类处理，从而达到数据优化的目的。

具体的，本发明是一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法，应用于触摸屏采样驱动模块的驱动程序中，是对硬件采样原始数据的一种优化算法，包括以下步骤：

步骤1：由于不同的触摸屏的采样电路的硬件特性不同，采样精度也会有很大差别，所以在编写驱动程序的时候需要首先根据硬件差异确认合适的双圆半径，半径确认包括内圆半径r1确认和外圆半径r2确认；内圆半径r1确认，使用了正态分布，具体步骤为：

步骤1A：长时间点击触摸屏某个点（一般选取屏幕中间位置），采集n个点的位置数据，为了规避偶然误差，采样点的数目n要足够大，第m个点的坐标的值表示为：m(xm,ym);其中，长时间是指长按某个预设之间，例如3s；采集的点的数量n需要足够多，其和硬件采集频率有关，n=硬件采样频率*采样时间；

步骤1B：对采集到的n个点进行求平均运算，找到中心位置并计算各个点距离o点的距离d，第m个点距离的距离表示为：

步骤1C：计算各个点距离o点的平均距离