[发明专利]触摸检测系统及其检测方法、触摸屏终端

权利要求书

1.一种触摸检测系统的检测方法，其特征在于，所述触摸检测系统具有二维矩阵式触摸传感器，所述二维矩阵式触摸传感器上布设有若干驱动电极和若干感应电极，驱动电极与感应电极之间形成耦合电容，且驱动电极和感应电极均与地之间形成寄生电容；所述检测方法包括下述步骤：

通过各个感应电极检测各寄生电容参数的变化信息，并根据检测结果定位出触摸操作在感应电极所在维度上的触摸位置；

根据所述触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数的变化，以及对所述驱动电极的扫描时序，定位出触摸操作在驱动电极所在维度上的触摸位置。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述的根据检测结果定位出触摸操作在感应电极所在维度上的触摸位置的步骤具体包括下述步骤：

当有寄生电容参数的变化超过预设的阈值时，将该寄生电容对应的感应电极的所在位置，作为触摸操作在感应电极所在维度上的触摸位置。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述的根据所述触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数的变化，以及对所述驱动电极的扫描时序，定位出触摸操作在驱动电极所在维度上的触摸位置的步骤具体包括下述步骤：

在扫描各个驱动电极的过程中，将所述触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数变化幅度最大时所扫描的驱动电极的所在位置，作为触摸操作在驱动电极所在维度上的触摸位置。

4.如权利要求1至3任一项所述的检测方法，其特征在于，通过感应电极检测到的各个寄生电容参数的变化信息中，包含有第一类寄生电容的参数变化信息与第二类寄生电容的参数变化信息；所述第一类寄生电容为该感应电极与地之间形成的寄生电容，所述第二类寄生电容为可与该感应电极形成耦合电容的驱动电极与地之间形成的寄生电容。

5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述第二类寄生电容的参数变化信息通过耦合电容反映至感应电极上。

6.一种触摸检测系统，其特征在于，所述触摸检测系统具有二维矩阵式触摸传感器，所述二维矩阵式触摸传感器上布设有若干驱动电极和若干感应电极，驱动电极与感应电极之间形成耦合电容，且驱动电极和感应电极均与地之间形成寄生电容；所述触摸检测系统还包括：

采样单元，其连接各个感应电极，用于通过各个感应电极检测各寄生电容参数的变化信息；

第一维度定位单元，用于根据检测结果定位出触摸操作在感应电极所在维度上的触摸位置；

第二维度定位单元，用于根据由所述第一维度定位单元确定的触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数的变化，以及对所述驱动电极的扫描时序，定位出触摸操作在驱动电极所在维度上的触摸位置。

7.如权利要求6所述的触摸检测系统，其特征在于，所述采样单元包括:

一放大器，其同相输入端接各个感应电极，其反相输入端与其输出端之间形成负反馈。

8.如权利要求6所述的触摸检测系统，其特征在于，所述第一维度定位单元包括：

判断模块，用于判断是否有寄生电容参数的变化超过预设的阈值；

第一定位模块，用于在所述判断模块判断出有寄生电容参数的变化超过预设的阈值时，则将该寄生电容对应的感应电极的所在位置作为触摸操作在感应电极所在维度上的触摸位置。

9.如权利要求6所述的触摸检测系统，其特征在于，所述第二维度定位单元包括：

对比模块，用于在扫描各个驱动电极的过程中，将所述触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数变化幅度进行对比，找到最大的寄生电容参数变化幅度；

第二定位模块，用于将所述触摸位置上感应电极所对应的寄生电容参数变化幅度最大时所扫描的驱动电极的所在位置，作为触摸操作在驱动电极所在维度上的触摸位置。

10.如权利要求6至9任一项所述的触摸检测系统，其特征在于，通过感应电极检测到的各个寄生电容参数的变化信息中，包含有第一类寄生电容的参数变化信息与第二类寄生电容的参数变化信息；所述第一类寄生电容为该感应电极与地之间形成的寄生电容，所述第二类寄生电容为可与该感应电极形成耦合电容的驱动电极与地之间形成的寄生电容。

11.如权利要求10所述的触摸检测系统，其特征在于，所述采样单元通过感应电极、耦合电容获取第二类寄生电容的参数变化信息。