[发明专利]测试电路和用于处理测试例程的方法

权利要求书

1.一种测试电路，包括：

测试器，其被配置为执行包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程，其中，测试器包括检查器，所述检查器被配置为针对要执行的多个测试命令中的每个在测试命令的每个执行之前检查当前是否存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态，并且被配置为在其确定当前存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其中，测试器还包括控制器，所述控制器被配置为响应于所述信号而停止执行测试命令。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其中，测试器还包括报告生成器，所述报告生成器被配置为生成关于测试例程的执行的报告，并且被配置为响应于所述信号而将测试命令曾要在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态中执行的指示包括在报告中。

4.根据权利要求1所述的测试电路，其中，所述状态是测试电路的状态。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其中，测试电路包括被配置为生成用于电子电路的测试信号的功率仪和用于将功率仪与电子电路对接的设备接口板。

6.根据权利要求1所述的测试电路，其中，所述状态是包括测试电路和电子电路的布置的状态。

7.根据权利要求1所述的测试电路，其中，所述状态是测试电路的开关的状态。

8.根据权利要求1所述的测试电路，其中，所述状态是测试电路的一个或多个继电器的状态。

9.根据权利要求8所述的测试电路，其中，所述状态包括测试电路的继电器是断开的还是闭合的。

10.根据权利要求8所述的测试电路，其中，所述状态包括测试电路的继电器是否处于稳定状态。

11.根据权利要求1所述的测试电路，其中，检查器被配置为在执行测试命令之前检查当前是否存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态。

12.根据权利要求1所述的测试电路，其中，多个测试命令是测试例程的所有测试命令中满足测试例程的所有测试命令中的预定准则的那些测试命令。

13.一种用于处理包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程的方法，所述方法包括：

针对多个测试命令中的每个测试命令确定测试命令是否满足预定准则；以及

向多个测试命令中满足预定准则的每个测试命令补充检查命令，所述检查命令在测试命令的每个执行之前检查执行测试命令是否可能导致电子电路的损坏，并且在其确定当前存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，补充测试命令包括用其中向测试命令补充了检查命令的库来替换包括测试命令的库。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，测试命令包括控制动作，并且补充后的测试命令包括在执行控制动作之前执行检查。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，控制动作是断开或闭合开关。

17.根据权利要求15所述的方法，其中，控制动作是断开或闭合继电器。

18.根据权利要求13所述的方法，其中，预定准则是执行测试命令可能在某个状态下导致电子电路的损坏。