[发明专利]测试电路和用于处理测试例程的方法

说明书

技术领域

本公开涉及测试电路和用于处理测试例程的方法。

背景技术

电子电路通常在制造之后在将它们交付给客户之前被测试。因为在此类测试过程中通常向要测试的电子电路应用电测试信号，所以存在如果未适当地实行测试过程，例如在测试信号中存在电压峰值，则电子电路在测试中受损坏的风险。期望对此予以避免。

发明内容

根据一个实施例，提供了一种测试电路，包括：测试器，其被配置为执行包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程，其中，测试器包括检查器，所述检查器被配置为如果要执行多个测试命令中的测试命令则检查当前是否存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态，并且被配置为在其确定当前存在其中执行测试例程可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。

根据进一步的实施例，提供了一种用于处理包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程的方法，所述方法包括针对多个测试命令中的每个测试命令确定测试命令是否满足预定准则，以及向多个测试命令中满足预定准则的每个测试命令补充检查命令，所述检查命令检查执行测试命令是否可能导致电子电路的损坏，并且在其确定当前存在其中执行测试例程可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。

附图说明

在附图中，同样的参考字符一般贯穿不同视图指代相同的部分。这些图不一定是按比例的，代之以一般着重于图示本发明的原理。在以下描述中，参照附图来描述各个方面，其中：

图1示出测试电路。

图2示出流程图。

图3示出测试布置。

图4示出测试布置。

图5示出Excel程序窗口。

图6示出第一对象结构和第二对象结构。

图7示出Excel屏幕。

图8示出用户接口。

图9示出选项屏幕。

图10示出报告头部。

图11示出模块配置段。

图12示出出现段。

图13示出示波器输出。

图14示出示波器输出。

图15示出示波器输出。

具体实施方式

以下详细描述参照附图，附图通过图示的方式示出其中可以实践本发明的本公开的具体细节和方面。足够详细地描述了本公开的这些方面以使本领域技术人员能够实践本发明。可以使用本公开的其他方面，并且可以在不偏离本发明的范围的情况下做出结构、逻辑和电气改变。本公开的各个方面并不一定是互斥的，因为本公开的一些方面可以与本公开的一个或多个其他方面进行组合以形成新的方面。

根据一个实施例，自动定位用于测试电子电路的测试例程（也称为测试程序）的（例如，由于编程错误）导致不期望的硬件条件的部分。此类条件可以与测试工程师使用的硬件（例如，使用的设备接口板（DIB））组合出现。取代信任测试例程的作者应用了足够的编程技术和编程指南（如果可获得的话），这允许测试例程在不期望的硬件条件（例如，（潜在地）引起对要测试的电路的损坏的条件）方面的验证，而不用例如借助于示波器通过大量努力来手动检查测试信号。

可以以这种方式处理或使用的测试例程例如是用像Teradyne的IGXL这样的测试程序开发编程语言编写的测试例程。例如，根据一个实施例，使用基于IGXL编程语言的硬件接口的覆盖（overlay）技术。这允许在测试命令（例如，这样的测试命令：这些测试命令的执行例如依赖于它们被启动的硬件状态可能导致要测试的电路的损坏）的启动之前和/或也在测试命令的执行之后引入检查点。该方式还允许例如通过引入附加检查点和检查方法来扩展检查过程以增加测试例程（在避免电路损坏方面）的安全性。

例如，根据一个实施例，检查器（例如，检查程序）在可能的危险条件（例如，针对其中在执行某个测试命令的情况下危险条件可能出现的状态）的方面检查测试例程的程序代码，所述危险条件例如由切换设备接口板（DIB）上的继电器引起，并且在所述危险条件中例如存在功率仪（例如，Flex DC90）的开环条件。功率仪可以例如与DIB的一个或多个继电器相关联，也即它经由其而连接到要测试的电子电路（被测设备（DUT））的那个或那些继电器。

硬件建模允许与测试硬件（例如，DIB）组合来检查测试例程。