[发明专利]一种图像中值滤波检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 201310676183.4 申请日: 2013-12-11
公开(公告)号: CN104715257A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 任红雷;杨建权;朱国普;赵希;黄晓霞 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/66
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 中值 滤波 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像中值滤波检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测图像的像素矩阵,并对获取到的待检测图像进行滤波处理,生成滤波图像的像素矩阵;

根据预先建立的残差值生成模型以及所述滤波图像的像素矩阵,生成所述残差图像的残差值;

根据预先建立的残差图像自相关系数生成模型以及所述残差图像的残差值,生成所述残差图像的自相关系数矩阵;

将所述残差图像自相关系数矩阵转化为特征矢量;

根据训练得到中值滤波分类器,以及所述残差图像自相关系数矩阵,判断所述待测图像是否经过中值滤波。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述滤波包括中值滤波、均值滤波以及高斯滤波。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,当所述滤波包括中值滤波、均值滤波以及高斯滤波时,所述对获取到的待检测图像进行滤波处理,生成所述待检测图像滤波后的像素矩阵,包括:

将待检测图像的像素矩阵进行中值滤波,生成经过中值滤波的像素矩阵;

将待检测图像的像素矩阵进行均值滤波,生成经过均值滤波的像素矩阵;

将待检测图像的像素矩阵进行高斯滤波,生成经过高斯滤波的像素矩阵。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据预先建立的残差值生成模型以及所述滤波图像的像素矩阵,生成所述残差图像的残差值之前,包括:

建立残差值生成模型:

  (i,j)∈{1,2...M}×{1,2...N},t=1,2,3...X

其中,I表示待检测图像的像素矩阵,I为一个M行N列像素矩阵;

表示待检测图像经过滤波后的像素矩阵,为一个M行N列像素矩阵;

i表示像素矩阵的第i行,j表示像素矩阵的第j列;

I(i,j)表示待检测图像的像素矩阵中的第i行j列的像素值;

t表示残差图像的像素矩阵的序号,对应于待检测图像滤波操作的滤波器类别;

表示第t个滤波图像的像素矩阵中的第i行j列的像素值;

dt(i,j)表示的第t个残差图像的像素矩阵中i行j列处的残差值;

M表示像素矩阵的行数,N表示像素矩阵的列数,X表示残差图像的像素矩阵的序号数。

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