[发明专利]一种校验方法和装置

权利要求书

1.一种校验方法，其特征在于，包括：

通过芯片的数据总线获取并行数据，所述并行数据的报文长度为L个字节，所述数据总线的位宽为N个字节，所述L和所述N都为正整数；

判断所述L除以所述N得到的余数是否等于0；

若所述L除以所述N得到的余数不等于0，在所述并行数据的头部添加P个字节的填充数据，得到新的并行数据，所述P等于所述N减去M，所述M为所述L除以所述N得到的余数的取值；

根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，所述初始值使得用与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后输出的结果相等；

根据所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值对所述新的并行数据进行CRC计算；

其中，所述根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，包括：

根据预置数据的每个比特信息和预置初始值获取与位宽为所述M相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；

根据所述预置数据的每个比特信息和待定初始值获取与位宽为所述N相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；

在与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后每个比特的输出结果都相等的情况下，计算所述与位宽为所述M相对应的CRC电路的预置初始值、所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的待定初始值组成的方程组，求解出所述待定初始值，所述待定初始值即为所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过芯片的数据总线获取并行数据之后，还包括：

对所述并行数据的尾部和所述数据总线进行对齐。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述判断所述L除以所述N得到的余数是否等于0之后，还包括：

若所述L除以所述N得到的余数等于0，根据与位宽为所述N相对应的CRC电路的预置初始值对所述并行数据进行CRC计算。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述L除以所述N得到的余数等于0时，对所述并行数据进行CRC计算所使用的CRC电路的预置初始值为N个字节的1或N个字节的0。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述P个字节的填充数据为P个字节的0。