[发明专利]一种校验方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种校验方法和装置。

背景技术

目前，循环冗余校验（Cyclic Redundancy Check，CRC）技术广泛应用于数据通信领域中的差错检测中。CRC可以通过软件查表或者硬件处理实现，随着高速网络的发展，对10G、20G、40G等超大流量的数据进行CRC处理已经成为趋势，对高速数据进行CRC处理一般通过硬件实现。

现有技术中，通过硬件对位宽为多个字节的并行数据进行CRC处理时，需要多个CRC电路来实现。举例来说，对于位宽为4个字节的并行数据进行CRC处理，则需要4种类型的CRC电路，分别是1个字节对应的CRC电路、2个字节对应的CRC电路、3个字节对应的CRC电路以及4个字节对应的CRC电路。

本发明的发明人对现有的校验方法进行研究发现，现有技术中当并行数据的位宽越大时所需要CRC电路也会成倍增长，这对于位宽为多个字节的并行数据进行CRC处理所需要的硬件资源较多。

发明内容

本发明实施例提供了一种校验方法和装置，用于减少对多个字节的并行数据进行CRC计算时所需要的硬件资源。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供一种校验方法，包括：

通过芯片的数据总线获取并行数据，所述并行数据的报文长度为L个字节，所述数据总线的位宽为N个字节，所述L和所述N都为正整数；

判断所述L除以所述N得到的余数是否等于0；

若所述L除以所述N得到的余数不等于0，在所述并行数据的头部添加P 个字节的填充数据，得到新的并行数据，所述P等于所述N减去M，所述M为所述L除以所述N得到的余数的取值；

根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，所述初始值使得用与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后输出的结果相等；

根据所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值对所述新的并行数据进行CRC计算。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述通过芯片的数据总线获取并行数据之后，还包括：

对所述并行数据的尾部和所述数据总线进行对齐。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述判断所述L除以所述N得到的余数是否等于0之后，还包括：

若所述L除以所述N得到的余数等于0，根据与位宽为所述N相对应的CRC电路的预置初始值对所述并行数据进行CRC计算。

结合第一方面的第二种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，当所述L除以所述N得到的余数等于0时，对所述并行数据进行CRC计算所使用的CRC电路的预置初始值为N个字节的1或N个字节的0。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述P个字节的填充数据为P个字节的0。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，所述根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，包括：

根据预置数据的每个比特信息和预置初始值获取与位宽为所述M相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；

根据所述预置数据的每个比特信息和待定初始值获取与位宽为所述N相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；

在与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC 电路分别进行CRC计算后每个比特的输出结果都相等的情况下，计算所述与位宽为所述M相对应的CRC电路的预置初始值、所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的待定初始值组成的方程组，求解出所述待定初始值，所述待定初始值即为所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值。

结合第一方面的第五种可能的实现方式，在第一方面的第六种可能的实现方式中，所述根据预置数据的每个比特信息和预置初始值获取与位宽为所述M相对应的CRC电路的每个比特的输出结果，包括：

通过如下方式计算与位宽为所述M相对应的CRC电路的第x个比特的输出结果next_crc_M[x]：