[发明专利]一种厚度检测治具以及厚度检测方法在审
申请号: | 201310722713.4 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103673831A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 李丽丽;曹保桂;金致荣;杨溢;纪月荣 | 申请(专利权)人: | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06;G01B5/28 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李迪 |
地址: | 230012 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 厚度 检测 以及 方法 | ||
1.一种厚度检测治具,其特征在于,包括底座和至少一个检测块,检测块垂直设置在底座的上方,其中检测块的上端通过支撑架固定,下端可活动,且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。
2.如权利要求1所述的厚度检测治具,其特征在于,所述支撑架的两端滑动连接在底座两侧的支撑杆上,以调整检测块底部与底座之间的间距。
3.如权利要求1所述的厚度检测治具,其特征在于,所述支撑架为圆柱状。
4.如权利要求3所述的厚度检测治具,其特征在于,所述检测块的上端与支撑架活动连接,具体包括:
所述检测块的上端设置有圆形孔,该圆形孔的直径大于支撑架的直径,所述检测块通过圆形孔悬挂在支撑架上,且检测块可沿着支撑架转动。
5.如权利要求4所述的厚度检测治具,其特征在于,所述检测块的上端和下端为一体成型。
6.如权利要求1所述的厚度检测治具,其特征在于,所述检测块的上端与支撑架固定连接,具体包括:
检测块分为上端和下端两部分,上端和下端之间通过铰链连接,将检测块的上端固定在支撑架上,下端可自由活动。
7.如权利要求6所述的厚度检测治具,其特征在于,所述检测块的上端与支撑架一体成型。
8.如权利要求5或7所述的厚度检测治具,其特征在于,所述检测块至少为一个,所有检测块为一体式结构或独立式结构。
9.如权利要求1所述的厚度检测治具,其特征在于,包括多组检测块,所述多组检测块级联设置,,且不同组检测块的底部与底座之间的间距不同。
10.一种基利用上述权利要求1-9中任一项所述的厚度检测治具实现对待检测产品的厚度检测方法,其特征在于,包括:待检测产品放置在底座和检测块之间,当沿着平行于底板方向移动待检测产品时,根据检测块的偏移程度对待检测产品的厚度进行评价,如果检测块出现偏移则说明该待检测产品的厚度超过预设厚度,否则说明该待检测产品的厚度未超过预设厚度。
11.如权利要求10所述的厚度检测方法,其特征在于,如果检测块发生偏移,进一步对待检测产品的平坦度进行评价,具体包括:
沿着平行于底板方向移动待检测产品,根据不同检测块的偏移程度是否相同判断待检测产品的平坦度,如果不同的检测块偏移量相同则说明该待检测产品的平坦度良好,否则说明该待检测产品的平坦度不良。
12.如权利要求10所述的厚度检测方法,其特征在于,当有两组检测块进行级联时,第一组检测块的底部与底座之间的间距为第一预设距离,第二组检测块的底部与底座之间的间距为第二预设距离,第一预设距离大于第二预设距离,如果待检测产品经过第一组检测块的过程中检测块不偏移,经过第二组检测块的过程中检测块发生偏移,则确定待检测产品的厚度范围在第二预设距离到第一预设距离之间。
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