[发明专利]一种厚度检测治具以及厚度检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种厚度检测治具以及厚度检测方法。

背景技术

工艺加工过程中往往对产品的厚度以及平坦度有要求，例如液晶显示面板、模组、PCB（Printed Circuit Board，印刷电路板）等板状产品，厚度检测治具采取的方案均为使被检测产品通过固定间距的两块平行检测板或检测槽，根据产品能否顺利通过来判断其厚度达标与否，其中检测板及检测槽均被固定在平台或底座上，不可活动。

利用上述厚度检测治具对产品进行检测过程中，由于检测板或检测槽是固定的、不可活动的，当产品厚度超标、不能顺利通过检测板时，容易对产品上厚度超标部分的表面造成损伤甚至破损，尤其当被检测产品比较脆弱（如液晶面板）时，待检测产品中厚度超标的部分极易在检测过程中造成破损。

因此，现有技术中对于产品的厚度检测过程中会对产品表面，特别是厚度超标的产品表面产生破坏性的损伤。

发明内容

（一）要解决的技术问题

针对上述缺陷，本发明要解决的技术问题是如何避免对产品进行厚度检测过程中对厚度超标的产品表面造成损伤。

（二）技术方案

为解决上述问题，本发明提供了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。

进一步地，所述支撑架的两端滑动连接在底座两侧的支撑杆上以调整检测快底部与底座之间的间距。

进一步地，所述支撑架为圆柱状。

进一步地，所述检测块的上端与支撑架活动连接，具体包括：

所述检测块的上端设置有圆形孔，该圆形孔的直径大于支撑架的直径，所述检测块通过圆形孔悬挂在支撑架上，且检测块可沿着支撑架转动。

进一步地，所述检测块的上端和下端为一体成型。

进一步地，所述检测块的上端与支撑架固定连接，具体包括：

检测块分为上端和下端两部分，上端和下端之间通过铰链连接，将检测块的上端固定在支撑架上，下端可自由活动。

进一步地，所述检测块的上端与支撑架一体成型。

进一步地，所述检测块的个数至少为一个，所有检测块为一体式结构或独立式结构。

进一步地，包括多组检测块，所述多组检测块可级联设置，且不同组的检测块的底部与底座之间的间距不同。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种利用上述厚度检测治具实现对待检测产品的厚度检测方法，包括：待检测产品放置在底座和检测块之间，当沿着平行于底板方向移动待检测产品时，根据检测块的偏移程度对待检测产品的厚度进行评价，如果检测块出现偏移则说明该待检测产品的厚度超过预设厚度，否则说明该待检测产品的厚度未超过预设厚度。

进一步地，如果检测块发生偏移，进一步对待检测产品的平坦度进行评价，具体包括：

沿着平行于底板方向移动待检测产品，根据不同检测块的偏移程度是否相同判断待检测产品的平坦度，如果不同的检测块偏移量相同则说明该待检测产品的平坦度良好，否则说明该待检测产品的平坦度不良。

进一步地，当有两组检测块进行级联时，第一组检测块的底部与底座之间的间距为第一预设距离，第二组检测块的底部与底座之间的间距为第二预设距离，第一预设距离大于第二预设距离，如果待检测产品经过第一组检测块的过程中检测块不偏移，经过第二组检测块的过程中检测块发生偏移，则确定待检测产品的厚度范围在第二预设距离到第一预设距离之间。

（三）有益效果

本发明提供了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式，将检测块设置为可活动的结构，当待检测产品从检测块和底座之间经过时，如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度，否则没有超过预设厚度。该厚度检测治具结构简单，使用方便，利用可活动的检测块不仅能根据检测块的偏移情况确定待检测产品的厚度和平坦度，并进一步确定厚度范围，还能避免检测过程对待检测产品表面上造成的损伤，为非破坏性检测，保证产品质量。同时本发明还提供了一种基于上述厚度检测治具的厚度检测方法。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种厚度检测治具的组成示意图；

图2为本发明实施例一中检测块的上端与支撑架活动连接的立体结构示意图；