[发明专利]一种差分的浮栅型DRAM存储单元无效

专利信息
申请号: 201310723105.5 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN103745742A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 李力南;翁宇飞 申请(专利权)人: 苏州宽温电子科技有限公司
主分类号: G11C11/4063 分类号: G11C11/4063
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 种差 浮栅型 dram 存储 单元
【权利要求书】:

1.一种差分的浮栅型DRAM存储单元,其特征在于:包括单管浮栅动态存储单元晶体管M1和单管浮栅动态存储单元晶体管M2,所述晶体管M1和晶体管M2的上面是源线SL控制电路模块,所述晶体管M1和晶体管M2的下面是位线BL控制电路模块和灵敏放大电路模块,所述晶体管M1和所述晶体管M2的源极分别作为存储单元的两根源线SL1和SL2;所述晶体管M1和所述晶体管M2的漏极分别作为存储单元的两根位线BL1和BL2;所述晶体管M1和所述晶体管M2的第二层栅极作为存储单元的控制栅CG1和CG2。

2.根据权利要求1所述的差分的浮栅型DRAM存储单元,其特征在于:所述晶体管M1和晶体管M2对称分布,构成差分型浮栅存储单元。

3.根据权利要求1所述的差分的浮栅型DRAM存储单元,其特征在于:所述源线SL控制电路模块包括第一编译码电路,第一编译码电路通过地址信号控制,同时提供电源,所述位线BL控制电路放大模块包括第二编译码电路,所述灵敏放大电路模块读取数据的任务。

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