[发明专利]利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法无效

专利信息
申请号: 201310727988.7 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN103700560A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 杨高;刘洋;李新亮 申请(专利权)人: 四川虹欧显示器件有限公司
主分类号: H01J9/50 分类号: H01J9/50
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌
地址: 621000 四川省绵阳市*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 利用 激光 pdp 显示屏 亮点 缺陷 进行 修复 方法
【权利要求书】:

1.利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,利用了PDP点灯检查机,所述PDP点灯检查机上还设置可活动的激光单元;

所述方法包括如下步骤:

步骤1:PDP显示屏通过物流线运输PDP点灯检查机,通过PDP点灯检查机对 PDP显示屏进行检查,选择出具有明、亮点不良的PDP显示屏次品;

步骤2:对PDP显示屏次品的明、亮点不良位置进行标注;

步骤3:操作人员移动激光单元到靠近PDP显示屏的位置;

步骤4: 激光单元利用变焦放大镜寻找到某个需要修复的不良点位置;

步骤5:将上步找到的不良点区域划分成若干连续的修复区;

步骤6:激光单元发射激光,按顺序依次烧掉各个修复区的ITO。

步骤7:重复步骤4~6,直到该PDP显示屏的所有不良点被修复。

2.如权利要求1所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,所述方法的步骤5之前,激光单元还利用变焦放大镜将上中寻找到的需要修复的不良点区域放大若干倍。

3.如权利要求1所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,步骤5中,两端的修复区靠近ITO Gap一边,背离BUS电极。

4.如权利要求1所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,步骤5中,将不良点位置区域分为三个连续的修复区。

5.如权利要求4所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,所述三个连续的修复区均为矩形。

6.如权利要求1~5中任一项所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,在步骤7之前,需要将前面步骤中被修复的PDP显示屏切换到FW/R/G/B画面,以对修复是否成功进行确认,如修复不成功则重复执行6,直到该不良点被彻底修复。

7.如权利要求6中所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,不良点修复成功的确认标准为:若经激光修复的不良点位置在10S内不发生闪烁即可判定为修复成功。

8.如权利要求1~5、7中任一项所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,所述激光单元发出的激光频率为15HZ。

9.如权利要求1~5、7中任一项所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,所述激光单元发出的激光能量小于1MJ。

10.如权利要求1所述的利用激光对PDP显示屏明、亮点缺陷进行修复的方法,其特征在于,所述PDP点灯检查机上还设置有横梁,激光单元通过升降机构连接到横梁上。

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