[发明专利]形成掩模板图形的方法有效
申请号: | 201310739011.7 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN104749872B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 刘娟 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 形成 模板 图形 方法 | ||
1.一种形成掩模板图形的方法,其特征在于,包括:
提供原始线状图形,所述原始线状图形具有两个相对的终端相邻片段,所述终端相邻片段与原始线状图形的终端相邻,并与其长度方向一致,所述终端相邻片段之间具有第一距离;
修改所述原始线状图形,得到新的线状图形,所述新的线状图形的两个终端相邻片段之间的距离为第二距离,所述第二距离大于第一距离;
以所述新的线状图形为基础,在OPC模型中形成掩模板图形,所述掩模板图形与原始线状图形的终端相邻片段相对应的边之间的距离增大,而与原始线状图形的终端相对应的边之间的距离缩小,所述OPC模型中形成掩模板图形包括:获取所述新的线状图像,输入相关工艺参数至OPC模型中,形成掩膜板图形。
2.如权利要求1所述的形成掩模板图形的方法,其特征在于,还包括:修改原始线状图形长度方向上与所述终端相邻片段相邻的其他片段,使新的线状图形沿长度方向上的两个相对片段之间的距离由终端向中间递减。
3.如权利要求1或2所述的形成掩模板图形的方法,其特征在于,在修改所述原始线状图形之前,先根据掩模板工艺极限对用户目标图形进行预判断,获取所述用户目标图形中后续会受掩模板工艺极限限制的原始线状图形;对所述后续会受掩模板工艺极限限制的原始线状图形进行修改,形成新的线状图形。
4.如权利要求3所述的形成掩模板图形的方法,其特征在于,所述对用户目标图形进行预判断的方法为:以所述用户目标图形为基础,在OPC模型中形成初始掩模板图形,所述初始掩模板图形具有多个子掩模图形,所述子掩模图形与用户目标图形中的原始线状图形相对应;获取各相邻子掩模图形之间的距离;当相邻子掩模图形之间的距离小于掩模板工艺极限时,对与该相邻子掩模图形相对应的原始线状图形进行标记,被标记的原始线状图形为后续会受掩模板工艺极限限制的原始线状图形。
5.如权利要求1所述的形成掩模板图形的方法,其特征在于,以OPC模型中形成的掩模板图形为基础,制作掩模板。
6.如权利要求5所述的形成掩模板图形的方法,其特征在于,以具有掩模板图形的掩模板对晶圆表面的光刻胶层进行曝光、显影,形成实际的光刻图形。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310739011.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备