[发明专利]陶瓷电子部件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310743848.9 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN103762075A 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 西坂康弘;真田幸雄;佐藤浩司;松本诚一 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01G4/232 分类号: H01G4/232
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊建中
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 陶瓷 电子 部件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种陶瓷电子部件,包括:

包括第一和第二主面、第一和第二侧面、以及第一和第二端面的陶瓷基体;

至少位于所述第一和第二主面的预定区域的基底电极层;以及

至少位于所述基底电极层上的镀膜,其中,

各个所述基底电极层包括金属和陶瓷结合材料,

各个所述镀膜包括热处理后的材料,所述热处理后的材料包括Cu和来自各个所述基底电极层的所述金属。

2.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述基底电极层仅位于所述预定区域。

3.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述镀膜位于所述第一和第二端面的预定区域。

4.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述镀膜位于所述第一和第二侧面的预定区域。

5.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述基底电极层还位于所述第一和第二端面的预定区域。

6.根据权利要求4所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述镀膜还位于所述第一和第二端面上的所述基底电极层上。

7.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述基底电极层还位于所述第一和第二侧面的预定区域。

8.根据权利要求6所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述镀膜还位于所述第一和第二侧面上的所述基底电极层上。

9.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述陶瓷电子部件的厚度为大约0.15mm。

10.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述陶瓷基体的尺寸满足以下公式:

T≤W<L,

(1/5)W≤T≤(1/2)W,以及

T≤0.3mm,

其中,T是所述陶瓷基体的厚度尺寸,L是所述陶瓷基体的长度尺寸,以及W是所述陶瓷基体的宽度尺寸。

11.根据权利要求10所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述陶瓷基体的尺寸满足以下公式:

0.1mm≤T≤0.3mm,

0.4mm≤L≤1mm,以及

0.2mm≤W≤0.5mm。

12.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

所述基底电极层和所述陶瓷基体具有相同或实质相同的收缩举动。

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