[发明专利]一种互干扰测试方法及装置

权利要求书

1.一种互干扰测试方法，其特征在于，包括：

保持干扰模组处于空闲idle状态，逐渐调整被干扰模组的下行功率，统计所述被干扰模组的吞吐量，根据统计得到的吞吐量确定吞吐量曲线A；

保持所述干扰模组处于最大发射功率状态，逐渐调整所述被干扰模组的下行功率，统计所述被干扰模组的吞吐量，根据统计得到的吞吐量确定吞吐量曲线B；

比较所述吞吐量曲线A与吞吐量曲线B，得到互干扰结果；

其中，在所述统计吞吐量之前，还包括设置测试场景；

当所述测试场景为多探头暗室时，确定吞吐量曲线，还包括：

调整所述被干扰模组所对应的被测设备的下行功率及其水平朝向，统计吞吐量；

对统计得到的吞吐量做线性平均处理，得到吞吐量曲线。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定吞吐量曲线，具体包括：

确定所述被干扰模组所对应的被测设备在不同的下行功率以及不同的水平朝向时所对应的吞吐量，统计得到吞吐量集合；

对所述统计得到的吞吐量集合在同一下行功率所对应的不同朝向的吞吐量做线性平均处理，统计不同功率所对应的吞吐量，根据统计的吞吐量确定吞吐量曲线。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试场景还包括混响室；

当所述测试场景为混响室时，确定吞吐量曲线，还包括：

调整所述被干扰模组所对应的被测设备的下行功率及所述混响室环境，统计吞吐量；

对统计得到的吞吐量做线性平均处理，得到吞吐量曲线。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述混响室环境包括被测设备所在的转台、搅动板位置以及发射天线；

所述确定吞吐量曲线，具体包括：

确定所述被干扰模组所对应的被测设备在不同的下行功率以及所述被测设备所处的转台、搅动板位置以及发射天线的不同组合时所对应的吞吐量，统计得到吞吐量集合；

对所述统计得到吞吐量集合在同一下行功率所对应的转台、搅动板位置以及发射天线的所有组合的吞吐量做线性平均处理，统计不同功率所对应的吞吐量，根据统计的吞吐量确定吞吐量曲线。

5.一种互干扰测试设备，其特征在于，包括：

处理模块，用于保持干扰模组处于空闲idle状态，逐渐调整被干扰模组的下行功率，统计所述被干扰模组的吞吐量，根据统计得到的吞吐量确定吞吐量曲线A；用于保持所述干扰模组处于最大发射功率状态，逐渐调整所述被干扰模组的下行功率，统计所述被干扰模组的吞吐量，根据统计得到的吞吐量确定吞吐量曲线B；

比较模块，用于比较所述吞吐量曲线A与吞吐量曲线B，得到互干扰结果；

其中，设备还包括设置模块，用于设置测试场景；

当所述测试场景为多探头暗室时，所述处理模块，具体包括：

第一处理子模块，用于调整所述被干扰模组所对应的被测设备的下行功率及其水平朝向，统计吞吐量；

第二处理子模块，用于对统计得到的吞吐量做线性平均处理，得到吞吐量曲线。

6.如权利要求5所述的设备，其特征在于，

所述第一处理子模块，具体用于确定所述被干扰模组所对应的被测设备在不同的下行功率以及不同的水平朝向时所对应的吞吐量，统计得到吞吐量集合；

所述第二处理子模块，具体用于对所述统计得到的吞吐量集合在同一下行功率所对应的不同朝向的吞吐量做线性平均处理，统计不同功率所对应的吞吐量，根据统计的吞吐量确定吞吐量曲线。

7.如权利要求5所述的设备，其特征在于，所述测试场景包括还包括混响室；

当所述测试场景为混响室时，所述处理模块，具体包括：

第一处理子模块，用于调整所述被干扰模组所对应的被测设备的下行功率及所述混响室环境，统计吞吐量；

第二处理子模块，用于对统计得到的吞吐量做线性平均处理，得到吞吐量曲线。

8.如权利要求7所述的设备，其特征在于，所述混响室环境包括被测设备所在的转台、搅动板位置以及发射天线；

所述第一处理子模块，具体用于确定所述被干扰模组所对应的被测设备在不同的下行功率以及所述被测设备所处的转台、搅动板位置以及发射天线的不同组合时所对应的吞吐量，统计得到吞吐量集合；

所述第二处理子模块，具体用于对所述统计得到吞吐量集合在同一下行功率所对应的转台、搅动板位置以及发射天线的所有组合的吞吐量做线性平均处理，统计不同功率所对应的吞吐量，根据统计的吞吐量确定吞吐量曲线。