[发明专利]电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备

权利要求书

1.一种电子元件作业单元，其特征在于，包含有：

作业区：设有供待执行作业的电子元件对位放置的承置座，以对该电子元件执行预设的作业；

移载取放装置：设有至少一移载取放器，以将待执行作业的电子元件移载至作业区的承置座，以及将作业区承置座内完成作业的电子元件移出承置座；

对位检查装置：移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比。

2.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该作业区设有测试电路板，以及于测试电路板上设有供电子元件对位放置的承置座，承置座内并设有复数个连接至电路板的电性接点，以供电子元件对位放置并执行电性测试作业。

3.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该移载取放装置至少于作业区设有至少一供料载台、收料载台及至少一移动于供料载台、作业区与收料载台间的移载取放器，该供料载台并设有对位调整装置，以对电子元件进行对位调整。

4.根据权利要求3所述的电子元件作业单元，其特征在于，该移载取放装置是在作业区第一侧设有第一供料载台及第一收料载台，在作业区第二侧则设有的第二供料载台及第二收料载台，另设有移动于作业区与第一供料载台及第一收料载台间的第一移载取放器，以及移动于作业区与第二供料载台及第二收料载台间的第二移载取放器，该第一供料载台上具有至少一第一供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该第一收料载台上具有至少一第一收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第二供料载台上具有至少一第二供料承座，以于供料位置承置待执行作业的电子元件，并移动至对应作业区的侧方位置，该第二收料载台上具有至少一第二收料承座，并移动至对应作业区的侧方位置，以承置完成作业的电子元件并移动至收料位置，该第一移载取放器可移动至第一侧的第一供料载台位置，以将第一供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第一收料载台上，该第二移载取放器可移动至第二侧的第二供料载台位置，以将第二供料载台上待执行作业的电子元件移载至作业区位置，或将作业区完成作业的电子元件移载至第二收料载台上。

5.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，还包含在该作业区设有对位调整装置，该对位调整装置是在承置座的上方架置有调整平台，以使移载取放装置的移载取放器可移载电子元件至调整平台位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整，或该对位调整装置是在作业区架置有由机械手臂带动的调整平台，以使该调整平台移动至移载取放装置的移载取放器上的电子元件位置，而直接于移载取放器上对电子元件进行对位调整。

6.根据权利要求1所述的电子元件作业单元，其特征在于，该对位检查装置是棱镜组及CCD取像器，其通过棱镜组同时对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行双向的位置取像，再由CCD取像器摄取棱镜组的影像，而获致取像资料。

7.一种电子元件作业方法，其特征在于，包含有：

移入料程序：由移载取放装置的移载取放器将待执行作业的电子元件移载至对应作业区的承置座位置；

取像对比程序：由对位检查装置移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上待执行作业的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比；

置料执行作业程序：由移载取放器将待执行作业的电子元件置入作业区的承置座内执行作业；

移出料程序：由移载取放器将完成作业的电子元件移出作业区的承置座。

8.根据权利要求7所述的电子元件作业方法，其特征在于，该取像对比程序若对比结果超出误差值，则进一步执行对位调整程序，该对位调整程序由移载取放器将待执行作业的电子元件重新置入供料载台，并由供料载台上的调整件进行对位调整，完成对位调整程序后再移入作业区，重新进行取像对比程序。