[发明专利]电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而有效执行作业的电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备。

背景技术

现今电子元件正积极朝向小巧轻薄的小体积微接点发展，因此小体积微接点的电子元件置入于作业区的承置件内的精准度要求相当高，若精准度稍有偏差，即使得电子元件无法在承置件内有效的执行作业，而降低作业的品质。

以电子元件的测试分类机为例，请参阅图1，其是本申请人所申请的中国台湾专利申请第96149417号可使电子元件精准对位的移载装置专利案，该测试分类机的机台上包括有供料装置10、输入端输送装置11、作业区12、输出端输送装置13及收料装置14；输入端输送装置11将供料装置10上待测的电子元件分别输送至作业区12内的供料载具121，作业区12内的第一、第二收料载具122、123上完测的电子元件，则依据检测结果由输出端输送装置13输送至收料装置14分类放置。请参阅图2，作业区12包括有测试站124、取像机构125、位于测试站124一侧的第一收料载具122、位于测试站124另一侧的供料载具121及第二收料载具123、第一移载取放器126及第二移载取放器127；其中，该供料载具121的上方设有复数个底面具镂空孔且用来承置待测电子元件的承座1211，各承座1211配置有复数个可为伺服马达且呈不同轴向设置的调整件1212、1213、1214，而可利用调整件1212、1213、1214驱动承座1211作X-Y两轴向及θ角的位移，而供料载具121的下方则设有滑轨组1215，而可于作业区12的供料处供输入端输送装置将待测电子元件置入于各承座1211上后，利用滑轨组1215将待测电子元件移载至取像机构125处取像，并以各调整件1212、1213、1214驱动承座1211作X-Y两轴向及θ角的补偿校正，而可精确调整待测电子元件的摆置，另该第一、二收料载具122、123则供承置完测的电子元件，该第一、二收料载具122、123以固定的方式定位于相对测试站124的相关位置，以供第一、二移载取放器126、127及输出端输送装置进行收料作业，该平行位于供料载具121侧方的取像机构125，是CCD取像器，并设置于机台的透明台板下方，且以线路连接信号至中央控制器，在供料载具121移载电子元件至取像机构125处取像后，将取像信号传输至中央控制器，且经由中央控制器的对比，而运算出其偏差量，进而命令供料载具121的各承座1211作位置或角度的补偿校正，使电子元件精准正确摆置，以供第一移载取放器126取出并移载置入于测试站124上执行检测作业。

该设计虽然于机台的透明台板下方设有为CCD取像器的取像机构125，以供供料载具121移载电子元件至该处取像，并令供料载具121的各承座1211作位置或角度的补偿校正，使电子元件精准正确摆置，供第一移载取放器126取出并移载置入于测试站124上执行检测作业；然而，第一移载取放器126在供料载具121上取出并移载电子元件的过程中，第一移载取放器126将会因本身结构上的误差或组装间隙或移动上的定位问题，使得在移动至测试站124时，可能造成电子元件微幅偏移的现象，而无法准确置入于测试站124，也即该设计可使电子元件精准正确摆置于供料载具121，但在第一移载取放器126移载置入于测试站124的重要阶段中，却可能造成电子元件微幅偏移的现象，这种情形对于现今讲求小体积微接点的电子元件而言，精准度稍有偏差，即可能导致无法有效的执行作业，而降低作业的品质。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种可使移载取放装置上的电子元件精准对位放置于作业区的承置座内，进而有效执行作业的电子元件作业单元、作业方法及其应用的作业设备。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种电子元件作业单元，其特征在于，包含有：

作业区：设有供待执行作业的电子元件对位放置的承置座，以对该电子元件执行预设的作业；

移载取放装置：设有至少一移载取放器，以将待执行作业的电子元件移载至作业区的承置座，以及将作业区承置座内完成作业的电子元件移出承置座；

对位检查装置：移动至作业区的承置座与移载取放器间的位置，以对移载取放器上的电子元件及作业区的承置座进行位置取像，并将取像资料传输至中央控制单元进行对比。

该作业区设有测试电路板，以及于测试电路板上设有供电子元件对位放置的承置座，承置座内并设有复数个连接至电路板的电性接点，以供电子元件对位放置并执行电性测试作业。