[发明专利]一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法

权利要求书

1.一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

选取岩心样品；

通过能谱仪对所述岩心样品的可动油膜进行元素含量测定，得到元素的质量百分比和原子数百分比；

根据所述岩心样品中的元素的质量百分比和原子数百分比计算所述能谱仪的探测范围V以及所述可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围的百分比C；

利用场发射环境扫描电镜测量油膜赋存的孔隙尺寸的长度为x，宽度为y，高度为z，根据公式S=π(z²+(MAX(x,y)/2)²)计算油膜覆盖表面积S；

利用公式计算油膜赋存厚度。

2.根据权利要求1所述的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，所述选取岩心样品时，要选取致密油藏产油层段的含油性好的样品或者选取密闭取样岩心样品。

3.根据权利要求2所述的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，根据所述质量百分比和原子数百分比计算所述能谱仪的探测范围V以及所述可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围的百分比C，包括：

根据所述岩心样品中的元素的质量百分比和原子数百分比，计算所述岩心样品中的矿物质量百分比以及烃类质量百分比；

根据所述原子百分比，利用元素的特征X射线能量加权平均值计算实验临界激发电压E_e；

根据原油密度、矿物平均密度、所述岩心样品中的元素的质量百分比、矿物质质量百分比以及烃类质量百分比，计算所述岩心样品的平均密度ρ；

根据所述岩心样品中的元素的原子数百分比，计算平均原子量A及平均原子序数Z；

根据公式计算得到所述能谱仪的探测范围V，其中，E₀为所述场发射环境扫描电镜的加速电压。

4.根据权利要求3所述的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，根据所述岩心样品中的原油密度、矿物平均密度、矿物质量百分比以及烃类质量百分比，计算得到所述岩心样品中的可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围V的百分比C；

根据公式V₀=C*V计算所述可动油膜的体积V₀。

5.根据权利要求4所述的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，利用场发射环境扫描电镜测量油膜赋存的孔隙尺寸的长度为x，宽度为y，高度为z，根据公式S=π(z²+(MAX(x,y)/2)²)计算油膜覆盖表面积S，包括：

将不规则的x×y×z的孔隙表面积近似等同于高度为z，截面积半径为MAX(x,y)，半径为R的半球体表面积，首先根据公式(R-z)²+(MAX(x,y)/2)²=R²计算出半球体的半径R，然后根据公式S=2πRz计算得到所述油膜覆盖表面积S。

6.根据权利要求3-5中任一项所述的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，所述矿物质为石英或者钠长石。