[发明专利]一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及油气增储上产领域，尤其涉及一种试验计算方法，具体的讲是一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法。

背景技术

致密油是目前研究的热点，也是油气资源增储上产的重要组成部分。目前国内外学者在致密油微纳米孔喉系统表征方面开展了大量的有效的探索性研究，提出许多前瞻性的研究成果，目前普遍认为微纳米孔喉是致密油储层的主要赋存空间，因此有效计算微纳米孔喉中油膜赋存厚度对于致密油资源评价具有重要意义。

但是，现有并没有对于致密储层微纳米孔喉中的可动油膜赋存厚度的计算方法的研究。

发明内容

本发明的目的是提供一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，用以解决技术中没有针对致密储层微纳米孔喉中的可动油膜赋存厚度做出测量的问题。

本发明实施例提供一种致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：选取岩心样品；通过能谱仪对所述岩心样品的可动油膜进行元素含量测定，得到元素的质量百分比和原子数百分比；根据所述岩心样品中的元素的质量百分比和原子数百分比计算所述能谱仪的探测范围V以及所述可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围的百分比C；利用场发射环境扫描电镜测量油膜赋存的孔隙尺寸的长度为x，宽度为y，高度为z，根据公式S=π(z²+(MAX(x,y)/2)²)计算油膜覆盖表面积S；利用公式计算油膜赋存厚度。

进一步地，在一实施例中，所述选取岩心样品时，要选取致密油藏产油层段的含油性好的样品或者选取密闭取样岩心样品。

进一步地，在一实施例中，根据所述质量百分比和原子数百分比计算所述能谱仪的探测范围V以及所述可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围的百分比C，包括：根据所述岩心样品中的元素的质量百分比和原子数百分比，计算所述岩心样品中的矿物质量百分比以及烃类质量百分比；根据所述原子百分比，利用元素的特征X射线能量加权平均值计算实验临界激发电压E_e；根据原油密度、矿物平均密度、所述岩心样品中的元素的质量百分比、矿物质质量百分比以及烃类质量百分比，计算所述岩心样品的平均密度ρ；根据所述岩心样品中的元素的原子数百分比，计算平均原子量A及平均原子序数Z；根据公式计算得到所述能谱仪的探测范围V，其中，E₀为所述场发射环境扫描电镜的加速电压。

进一步地，在一实施例中，根据所述岩心样品中的原油密度、矿物平均密度、矿物质量百分比以及烃类质量百分比，计算得到所述岩心样品中的可动油膜的体积占所述能谱仪总探测范围V的百分比C；根据公式V₀=C*V计算所述可动油膜的体积V₀。

进一步地，在一实施例中，利用场发射环境扫描电镜测量油膜赋存的孔隙尺寸的长度为x，宽度为y，高度为z，根据公式S=π(z²+(MAX(x,y)/2)²)计算油膜覆盖表面积S，包括：将不规则的x×y×z的孔隙表面积近似等同于高度为z，截面积半径为MAX(x,y)，半径为R的半球体表面积，首先根据公式(R-z)²+(MAX(x,y)/2)²=R²计算出半球体的半径R，然后根据公式S=2πRz计算得到所述油膜覆盖表面积S。

进一步地，在一实施例中，所述矿物质为石英或者钠长石。

本发明实施例的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法，采用高倍观察与能谱定量测定的方法，解决了常规方法的分辨率无法满足微纳米孔喉系统中原油厚度观测计算的问题，克服了岩心样品中油易挥发、不易观察的难题，通过实际测定探测范围、探测范围内油膜体积、油膜赋存表面积等实际数据得到油膜赋存厚度，结果真实可信。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例的致密储层微纳米孔喉中油膜赋存厚度的测量方法的方法流程图；

图2场发射环境扫描电镜能谱仪观测油膜分布探测范围示意图；

图3为不规则的x×y×z的孔表面积近似等同于高度为z，截面积半径为MAX(x,y)，半径为R的半球体表面积的示意图；