[发明专利]基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝及传感器制备方法有效
申请号: | 201310753944.1 | 申请日: | 2013-12-31 |
公开(公告)号: | CN103720463A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 刘景全;唐龙军;杨斌;陈翔;杨春生 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | A61B5/0215 | 分类号: | A61B5/0215 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 柔性 mems 传感器 智能 压力 制备 方法 | ||
1.一种基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,该压力导丝主体为实心结构;该压力导丝尾部通过金属细丝螺旋缠绕形成弹簧状螺旋结构,通过操控导丝头部对导丝进行周向旋转,同时配合导丝的轴向进给实现前进;该压力导丝尾部相连的部位设置有多点分布的压力传感器,能够同时测量多点的压力值,压力传感器与内部引线相连,该内部引线位于导丝外侧,沿着导丝直达头部;该压力导丝头部设有传感器引线电极点,与操控手柄相连;导丝头部设计成扁平状,方便与操控手柄上的外部扭矩传感器相连,实时测量导丝旋转时的反馈力矩。
2.根据权利要求1所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述压力传感器为柔性压力传感器,该压力传感器采用电容式原理,设计成微电容阵列结构,微电容之间为并联,电容的总值为每个微电容电容值总和。
3.根据权利要求2所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述的柔性压力传感器采用柔性MEMS工艺制作,材料选用Au和Parylene,光刻胶作为牺牲层,Au作为电容的上下电极,Parylene作为变形膜材料,该传感器薄膜具有全柔性的特点,采用旋绕的方式裹附至导丝表面;通过控制Parylene层的厚度来实现不同的传感器灵敏度。
4.根据权利要求3所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述柔性压力传感器包括:微电容阵列、上电极引线点、下电极引线点、上电极导引线和下电极导引线,所述微电容阵列包括4×10个阵列的微电容,各电容的上下电极分别相连,形成4×10个并联的电容,上电极通过上电极导引线与上电极引线点相连,下电极通过下电极导引线与下电极引线点相连。
5.根据权利要求4所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述上下电极阵列点间的连接相互垂直错开,降低寄生电容。
6.根据权利要求1所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述压力传感器采用缠绕的方式裹覆至导丝表面,利用导丝空间充足的表面多点分布安装压力传感器,并通过粘接剂实现导丝与压力传感器的固定连接。
7.根据权利要求1所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述导丝与所述内部引线通过涂敷PTFE裹住定型。
8.根据权利要求1-7任一项所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述的导丝设有外部扭矩传感器连接点,与操控手柄相连,操控手柄通过该连接点对导丝施加扭矩,并实时测量该扭矩的大小,设置力矩阈值上限,当力矩超过该阈值时将产生警报,同时放开导丝,释放手柄对导丝施加的旋转力矩。
9.根据权利要求1-7任一项所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述导丝的主体为芯部,由不锈钢丝制成,芯部靠近尾端为尾部细芯,直径逐渐缩小;尾部细芯末端与尾部球凸相连,尾部球凸设计成圆滑的球状;所述的尾部螺旋结构一端与尾部球凸相连,另一端与导丝的芯部相连,尾部螺旋采用不锈钢丝绕制而成,尾部细芯与尾部螺旋同心,并起到支撑尾部螺旋的作用。
10.根据权利要求9所述的基于柔性MEMS传感器的智能压力导丝,其特征在于,所述内部引线分成数支,它的数量取决于压力传感器的数量,该内部引线的其中一支的一端与压力传感器的上电极引线点相连,另一端与某一外部引线点相连;同时该内部引线的另一支与压力传感器微电容下电极引线点相连,另一端与某一外部引线点相连,内部引线通过PTFE涂层包裹在导丝芯部的表面上。
11.一种权利要求4所述的柔性压力传感器的制备方法,其特征在于,所述传感器制备步骤如下:
1)以玻璃衬底为基底,进行清洗烘烤,洁净和改善表面;
2)在玻璃基底上溅射金属Cr/Cu,作为上层结构最后的释放层;
3)CVD方法在释放层上沉积Parylene薄膜,作为传感器的底层衬底,即为支撑层Parylene;
4)光刻图形化,曝光的部分即要形成的下电极形状;
5)溅射Cr/Au层,丙酮超声去掉光刻胶层上的金属,剩下的金属部分即形成下电极;
6)光刻显影,未曝光的光刻胶作为下一步反应离子刻蚀的掩膜;
7)RIE刻蚀Parylene,形成背面释放孔,作为最后牺牲层释放孔;
8)光刻显影,用未曝光的光刻胶作为牺牲层,用于形成电容的上下电极空腔,厚度根据电容的大小进行计算;
9)CVD沉积Parylene薄膜,作为上下电极绝缘层Parylene;
10)图形化溅射的Cr/Au层,形成上电极;
11)CVD沉积Parylene薄膜,厚度根据设计参数结合步骤8)中的薄膜厚度来进行调整,作为最后的上电极绝缘层Parylene;
12)光刻显影,未曝光的光刻胶作为下一步反应离子刻蚀的掩膜;
13)RIE刻蚀Parylene,露出上下电极点,作为上电极引线点;
14)电镀Au,作为上电极引线点和下电极的引线点;
15)用Cr/Cu腐蚀液去掉释放层,将传感器与玻璃衬底分离;
16)丙酮超声,去除牺牲层光刻胶,形成微电容,即微电容阵列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310753944.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。