[实用新型]半导体测试探针

权利要求书

1.一种半导体测试探针，设置于一测试装置中用以导接所述测试装置及一待测电路板，其中所述测试装置包含一检测电路板，其特征在于，该半导体测试探针包含：

一导电杆体，其二端分别为一连接端以及用以接触所述待测电路板的一检测端；

一柱状弹簧，该柱状弹簧的一端连接该导电杆体的该连接端，该柱状弹簧的另一端用以抵接所述检测电路板；及

一导线，沿该柱状弹簧设置，该导线的其中一端电性连接该导电杆体，该导线的另一端用以导接所述检测电路板。

2.根据权利要求1所述的半导体测试探针，其特征在于，该导线设置于该柱状弹簧的内侧。

3.根据权利要求1所述的半导体测试探针，其特征在于，该柱状弹簧的二端分别为一自由端以及一固定端，该自由端连接该导电杆体的该连接端，该固定端用以抵接所述检测电路板。

4.根据权利要求3所述的半导体测试探针，其特征在于，该柱状弹簧的该固定端的外径小于该自由端的外径。

5.根据权利要求3所述的半导体测试探针，其特征在于，该柱状弹簧的该固定端渐缩延伸。

6.根据权利要求3所述的半导体测试探针，其特征在于，该柱状弹簧的该固定端套接该导电杆体的该连接端。

7.根据权利要求1所述的半导体测试探针，其特征在于，该检测端具有用以接触所述待测电路板的一导接部。

8.根据权利要求1所述的半导体测试探针，其特征在于，该导线连接于该导电杆体的该连接端。