[实用新型]一种显示屏不良点采集装置及显示屏短接测试系统有效
申请号: | 201320145387.0 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN203134320U | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 李明;金用燮;刘晓涛;穆慧慧 | 申请(专利权)人: | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 230011 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示屏 不良 采集 装置 测试 系统 | ||
1.一种显示屏不良点采集装置,其特征在于,包括:
支撑待测显示屏的基台;
安装于所述基台、且与所述基台的支撑面平行设置的导轨,所述导轨可在平行于所述基台的支撑面的一个平面内运动;
可沿所述导轨长度方向移动、采集所述待测显示屏上不良点信息的激光对位模块;
与所述激光对位模块信号连接、将接收到的所述不良点信息生成具体坐标值的坐标处理模块。
2.根据权利要求1所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,还包括:与所述坐标处理模块信号连接、储存所述待测显示屏上的不良点的坐标值的存储模块。
3.根据权利要求1所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述激光对位模块为精密激光探测针。
4.根据权利要求3所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,还包括:驱动所述精密激光探测针和所述导轨移动的驱动装置。
5.根据权利要求4所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述驱动装置为步进电机。
6.根据权利要求5所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述基台上设有与所述基台的支撑面垂直、且沿背离所述基台的支撑面方向延伸的支撑柱,所述导轨通过所述支撑柱安装于所述基台。
7.根据权利要求6所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述导轨可旋转的安装于所述支撑柱。
8.根据权利要求6所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述导轨包括:第一导轨和第二导轨,且所述第一导轨和所述第二导轨相互垂直,所述第一导轨固定于所述支撑柱,所述第二导轨与所述第一导轨滑动连接,所述精密激光探测针可沿所述第二导轨的长度方向移动。
9.根据权利2~8任一项所述的显示屏不良点采集装置,其特征在于,所述导轨沿其长度方向上设有滑槽,所述精密激光探测针可沿所述滑槽滑动;
或,所述导轨上设有滑块、且所述滑块可沿所述导轨的长度方向移动,所述精密激光探测针固定于所述滑块。
10.一种显示屏短接测试系统,包括:显示屏短接测试装置,其特征在于,还包括:如权利要求1~9任一项所述的显示屏不良点采集装置。
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