[实用新型]一种显示屏不良点采集装置及显示屏短接测试系统有效

专利信息
申请号: 201320145387.0 申请日: 2013-03-27
公开(公告)号: CN203134320U 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 李明;金用燮;刘晓涛;穆慧慧 申请(专利权)人: 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 230011 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示屏 不良 采集 装置 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及显示屏检测技术领域,特别涉及一种显示屏不良点采集装置及显示屏短接测试系统。

背景技术

由于当前市场上小尺寸产品越来越多,而显示屏的精度要求也越来越高,检查使用原始的Blade(刀片)或者Film Tpye(膜式)已经不能满足检查的需求。

随着Shorting Bar(显示屏短接测试装置)的出现,解决了显示屏的点灯问题。如图1所示,现将显示屏01内的栅极线和数据线进行分组短接,形成多个短接点,显示屏短接测试装置中的探针给这些短接点提供信号,若显示屏正常,则在显示屏01上不会现亮点或亮线;若显示屏不正常,则显示屏01上会出现亮点或亮线。

但是,现有的显示屏短接测试装置无法上传缺陷点坐标,从而导致显示屏出现点不亮和线不良时,维修困难。

实用新型内容

本实用新型提供了一种显示屏不良点采集装置,可以将采集到的待测显示屏上不良点的信息生成具体坐标值。

本实用新型还提供了一种显示屏短接测试系统,可以降低显示屏的废弃率。

为达到上述目的,本实用新型提供以下技术方案:

一种显示屏不良点采集装置,包括:

支撑所述待测显示屏的基台;

安装于所述基台、且与所述基台的支撑面平行设置的导轨,所述导轨可在平行于所述基台的支撑面的一个平面内运动;

可沿所述导轨长度方向移动、采集所述待测显示屏上不良点信息的激光对位模块;

与所述激光对位模块信号连接、将接收到的所述不良点的信息生成具体坐标值的坐标处理模块。

优选地,上述显示屏不良点采集装置,还包括:与所述坐标处理模块信号连接、储存所述待测显示屏上的不良点的坐标值的存储模块。

优选地,所述激光对位模块为精密激光探测针。

优选地,上述显示屏不良点采集装置还包括:驱动所述精密激光探测针和所述导轨移动的驱动装置。

优选地,所述驱动装置为步进电机。

优选地,所述基台上设有与所述基台的支撑面垂直、且沿背离所述基台的支撑面方向延伸的支撑柱,所述导轨通过所述支撑柱安装于所述基台。

优选地,所述导轨可旋转的安装于所述支撑柱。

优选地,所述导轨包括:第一导轨和第二导轨,且所述第一导轨和所述第二导轨相互垂直,所述第一导轨固定于所述支撑柱,所述第二导轨与所述第一导轨滑动连接,所述精密激光探测针可沿所述第二导轨的长度方向移动。

优选地,所述导轨沿其长度方向上设有滑槽,所述精密激光探测针可沿所述滑槽滑动;

或所述导轨上设有滑块、且所述滑块可沿所述导轨的长度方向移动,所述精密激光探测针固定于所述滑块。

本实用新型还提供了一种显示屏短接测试系统,包括:显示屏短接测试装置,还包括:上述显示屏不良点采集装置。

本实用新型提供的显示屏不良点采集装置,包括:

支撑所述待测显示屏的基台;

安装于所述基台、且与所述基台的支撑面平行设置的导轨,所述导轨可在平行于所述基台的支撑面的一个平面内运动;

可沿所述导轨长度方向移动、采集所述待测显示屏上不良点信息的激光对位模块;

与所述激光对位模块信号连接、将接收到的所述不良点信息生成具体坐标值的坐标处理模块。

本实用新型提供的显示屏不良点采集装置,在使用时,根据待测显示屏的长和宽以及分辨率,预先将待测显示屏的长、宽、以及分辨率输入显示屏不良点采集装置中,显示屏不良点采集装置将根据接收到的上述信息,生成与实物待测显示屏形状相同的虚拟显示屏,并以虚拟显示屏相垂直的两个边分别为X轴和Y轴、垂直点(X轴Y轴的交点)为原点(0,0)建立平面直角坐标系,并根据待测显示屏的分辨率将虚拟显示屏的长、宽平均分成一个个小段,每一小段代表坐标单元格距离(即每个像素点对应一个坐标值),也就是说可以在虚拟显示屏上形成网格,这样便形成一个与实物待测显示屏形状和大小相同的标准坐标系区域。这样便可以通过激光对位模块采集待测显示屏上不良点的信息,通过坐标处理模块便可生成该点的坐标值。另外,由于激光对位模块相对导轨可滑动,导轨相对基台可以移动,激光对位模块便可以采集到待测显示屏上任意一点的信息。

所以,本实用新型提供的显示屏不良点采集装置,可以将采集到的待测显示屏上不良点的信息生成具体坐标值。

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