[实用新型]LED芯片结构有效

专利信息
申请号: 201320174874.X 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN203218309U 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 夏炀 申请(专利权)人: 夏炀
主分类号: H01L33/16 分类号: H01L33/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 243000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: led 芯片 结构
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及半导体领域,尤其涉及一种发光二极管。

背景技术

1993年世界上第一只GaN基蓝色LED问世以来,LED制造技术的发展令人瞩目。现有的芯片结构大多采用GaN。值得注意的是,InGaN能量带隙从近红外连续延伸到紫外波段,是半导体中宽广带隙的代表。InGaN合金在可见光波段完全覆盖,基于此特点,InGaN合金可以显示全可见光谱。InGaN的禁带宽度降低。此外,高In组分形成的团簇会产生类似量子点的效应,这可以导致激子局域化效应,进而提高发光效率。Naranjo等科学家和J.Wu等科学家分别报道了In组分为0.19到0.37和Tn组分为0.5到1.0之间的InGaN薄膜。另外,Hori实现了全组分InGaN薄膜的生长。这些年来,对全组分InGaN薄膜材料的能带工程与其光电方面的应用在研究领域成为热点。

实用新型内容

本实用新型的目的提供一种LED芯片结构,极大提供现有LED的发光效率。

本实用新型提供了LED芯片结构,包括衬底,覆盖衬底的n型GaN层,n型GaN层引出的n型电极,n型GaN层覆盖的p型GaN层,以及p型GaN层引出的p型电极,n型GaN层与p型GaN层之间设有InGaN/GaN薄膜发光层。

本实用新型提供的LED芯片结构,通过在n型GaN层与p型GaN层之间设有InGaN/GaN薄膜发光层,利用较宽的InGaN能量带隙,极大提高了LED芯片的发光效率。

在一些实施方式中,p型GaN层和p型电极之间还设有透明导电层。增大导电面积的同时不影响出光。

在一些实施方式中,衬底与n型GaN层之间设有低温GaN层,抵消了衬底材料的晶格失配度和热应力失配度等缺陷,提高了GaN层晶体质量,降低位错密度。

附图说明

图1为本实用新型提供的LED芯片结构的一种实施方式的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示,本实用新型公开了一LED芯片结构,包括衬底1,覆盖衬底1的n型GaN层2,n型GaN层2引出的n型电极21,n型GaN层覆盖的p型GaN层3,以及p型GaN层3引出的p型电极31,n型GaN层2与p型GaN层3之间设有InGaN/GaN薄膜发光层4。p型GaN层3和p型电极31之间还设有透明导电层32。衬底1与n型GaN层2之间设有低温GaN层5。

通过在n型GaN层与p型GaN层之间设有InGaN/GaN薄膜发光层,利用较宽的InGaN能量带隙,极大提高了LED芯片的发光效率。

衬底与n型GaN层之间设有的低温GaN层,抵消了衬底材料的晶格失配度和热应力失配度等缺陷,提高了GaN层晶体质量,降低位错密度。

以上所述仅是本实用新型的优选方式,应当指出,对于本领域普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干相似的变形和改进,这些也应视为本实用新型的保护范围之内。

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