[实用新型]用于X射线荧光光谱分析的织物样片有效
| 申请号： | 201320181363.0 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN203191238U | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 窦怀智;申晓萍;侯晋 | 申请（专利权）人： | 中华人民共和国南通出入境检验检疫局 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司： | 南通市永通专利事务所 32100 | 代理人： | 葛雷 |
| 地址： | 226018 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 射线 荧光 光谱分析 织物 样片 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片，其特征是：包括偏硼酸锂空白熔片，熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。
2.根据权利要求1所述的用于X射线荧光光谱分析的织物样片，其特征是：偏硼酸锂空白熔片的直径为28 mm的圆形片。
3. 根据权利要求1或2所述的用于X射线荧光光谱分析的织物样片，其特征是：标准贴衬织物层是直径为26 mm的圆形织物层。
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