[实用新型]用于X射线荧光光谱分析的织物样片

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片。

背景技术

现有的对液体样品等X射线荧光光谱分析，一般采用普通的膜上直接滴注待测液体的方法，检测精度不理想，需要进一步改进。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种结构合理，检测效果好的用于X射线荧光光谱分析的织物样片。

本实用新型的技术解决方案是：

一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片，其特征是：包括偏硼酸锂空白熔片，熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。

偏硼酸锂空白熔片的直径为28 mm的圆形片。标准贴衬织物层是直径为26 mm的圆形织物层。

本实用新型结构合理，由偏硼酸锂熔片做衬底，通过树脂层将标准贴衬织物或定量滤纸复合在熔片上。检测液体样品时，与样品杯相比，采用织物样片所需样品量较少并可以在真空条件下检测。利用织物样片建立的工作曲线可用来检测相应织物样品，具有线性好，相关系数高的特点。

本实用新型可用于液体或面料的金属元素分析，样片织物层能较好的吸收液体并使之均匀分布，在样片干燥后能够在真空条件下进行测量。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片，包括偏硼酸锂空白熔片1，熔片上通过树脂层2复合有标准贴衬织物层3。织物层为分析层，用于滴加待测元素，树脂和熔片作为基层。

偏硼酸锂空白熔片的直径为28 mm的圆形片。标准贴衬织物层是直径为26 mm的圆形织物层。

本实用新型的工作过程是：裁剪出直径26 mm的圆形标准贴衬织物，用电子天平称量得质量m，精确至0.0001g。将丙烯酸树脂均匀涂覆在事先准备好的偏硼酸锂空白熔片（直径28 mm）上，将标准贴衬织物复合上，保证表面平整均匀，待树脂固化后，X射线荧光光谱分析用空白织物样片就制备好了。使用时，将待测液体或标准溶液滴加在织物表面，单次可滴加100～200 μL，假如标准溶液浓度为C，滴加体积为V，则样片分析层待测元素的浓度ρ=V*C/m。