[实用新型]ATP荧光快速检测仪全避光检测装置有效
申请号: | 201320194690.X | 申请日: | 2013-04-17 |
公开(公告)号: | CN203222589U | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 倪树标;张冠文;陈云;陈江韩;刘日威;黎国标 | 申请(专利权)人: | 中国广州分析测试中心 |
主分类号: | C12M1/34 | 分类号: | C12M1/34;C12R1/01 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 | 代理人: | 黄培智 |
地址: | 510070 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | atp 荧光 快速 检测 避光 装置 | ||
1.ATP荧光快速检测仪全避光检测装置,包括有相互连接的光电检测器(3)和检测室(2),在检测室(2)上连接检测室盖(4),;
其特征在于:所述检测室(2)内设有检测通道(21),所述检测通道(21)的垂直截面为L型,检测通道(21)顶端开有放样孔(211),底端右侧开有通光孔(212),检测室(2)顶端设有第一挡光壁(22),第一挡光壁(22)处于放样孔(211)的外沿上方,在通光孔(212)外的检测室(2)表面上设有第二挡光壁(24),所述光电检测器(3)连接在第二挡光壁(24)所在的检测室(2)侧面上,通光孔(212)与所述光电检测器(3)内相通;检测室盖(4)底面设有第三挡光壁(41),其与所述第一挡光壁(22)相匹配,在检测室盖(4)旁侧设有固定转轴孔(42),前端设开启凹槽(43)。
2.如权利要求1所述的ATP荧光快速检测仪全避光检测装置,其特征在于:所述第一挡光壁(22)为双层,第三挡光壁(41)嵌入第一挡光壁(22)之间,相匹配。
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