[实用新型]ATP荧光快速检测仪全避光检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于生物荧光快速检测仪的检测室，尤其涉及一种细菌总数ATP生物荧光快速检测仪的检测室。

背景技术

目前，用于荧光快速检测仪的检测室的设计，一般就采用普通检测室加盖设计不做光密闭考虑。荧光是非常弱的光，由于光的泄露往往导致检测结果大大偏离实际情况。同时为了密闭光，一般会将检测室做黑色处理，如果表面做得不够光滑，荧光往往会有部分被检测室本身吸收，减少荧光检测量。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术检测室本身吸收荧光且检测室密闭性不够导致检测结果偏差的技术问题，提供一种ATP荧光快速检测仪全避光检测室。

为实现以上目的，本实用新型采取了以下的技术方案：一种ATP荧光快速检测仪全避光检测装置，包括有相互连接的光电检测器和检测室，在检测室上连接检测室盖；所述检测室内设有检测通道，所述检测通道的垂直截面为L型，检测通道顶端开有放样孔，底端右侧开有通光孔，检测室顶端设有第一挡光壁，第一挡光壁处于放样孔的外沿上方，在通光孔外的检测室表面上设有第二挡光壁，所述光电检测器连接在第二挡光壁所在的检测室侧面上，通光孔与所述光电检测器内相通；检测室盖底面设有第三挡光壁，其与所述第一挡光壁相匹配，在检测室盖旁侧设有固定转轴孔，前端设开启凹槽。由检测室和检测室盖两部分构成密闭光学检测室来进行ATP荧光检测。

ATP荧光快速检测装置主要是通过荧光检测样品中的细菌数量。由于荧光是非常弱的光，少少杂散光对检测结果影响都非常大，因此检测室设计必须要做到完全避光，本仪器避光检测室采用铝块巧妙加工两个互相垂直通孔，垂直的是放样孔用于放置样品，样品反应发光通过水平的通光孔，进入光电检测器。铝块内外发黑同时在样品管底部做抛光处理，使荧光不被吸收尽可能反射。在放样孔上端设计一个双层挡光壁，用于与检测室盖挡光壁匹配，这样即可达到密闭光的效果。同时保持检测室盖的活动性，方便操作。光孔设计单层挡光壁通过橡胶垫圈与光电检测器模块紧配合达到密闭光的效果。检测室盖合上后，检测室完全是暗室，光电检测器充分接收样品的荧光，从而取得较为准确的检测数据

所述第一挡光壁为双层，所述第三挡光壁嵌入第一挡光壁之间，相匹配。双层的档光壁遮光效果更为明显。

本实用新型与现有技术相比，具有如下优点：本实用新型采用光密闭双层挡边，同时在盖上与其匹配，将可能通过放样孔或通光孔泄露的光全部密闭，同时采用抛光反射方式，将样品位置的光反射回光电检测器，大大提高了样品的检测准确性。同时由于检测室与检测盖分离，这样不仅简化了结构，而且方便了仪器的安装。光电检测孔与样品孔相通，在样品位置进行抛光处理，检测室跟检测盖进行光密闭匹配挡边处理，同时检测室与光电检测器也进行光密闭设计。

附图说明

图1为本实用新型检测装置分解结构示意图；

图2为图1中检测通道垂直截面示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型的内容做进一步详细说明。

实施例：

请参阅图1和图2所示，一种ATP荧光快速检测仪全避光检测装置，包括有相互连接的光电检测器3和检测室2，在检测室2上连接检测室盖4；述检测室2内设有检测通道21，检测通道21的垂直截面为L型，检测通道21顶端开有放样孔211，底端右侧开有通光孔212，检测室2顶端设有第一挡光壁22，第一挡光壁22处于放样孔211的外沿上方，在通光孔212外的检测室2表面上设有第二挡光壁24，光电检测器3连接在第二挡光壁24所在的检测室2侧面上，通光孔212与光电检测器3内相通；检测室盖4底面设有第三挡光壁41，其与第一挡光壁22相匹配，在检测室盖4旁侧设有固定转轴孔42，前端设开启凹槽43，通过开启凹槽43来揭开检测室盖4。

第一挡光壁22可设在为双层或三层以上，第三挡光壁嵌入这些挡光壁之间，并相匹配。多层的挡光壁能有效遮光。

上列详细说明是针对本实用新型可行实施例的具体说明，该实施例并非用以限制本实用新型的专利范围，凡未脱离本实用新型所为的等效实施或变更，均应包含于本案的专利范围中。