[实用新型]用于测试元器件老化的通断控制器

权利要求书

1.一种用于测试元器件老化的通断控制器，包括交流电源（10）、时间继电器（11）、计数继电器（12）及电磁继电器（13）组成，其特征在于：所述的交流电源（10）与所述的时间继电器（11）的一个端口（111）连接，端口（111与端口（110）相连通，所述端口（110）与所述的计数继电器（12）的一个端口（121）连接，端口（121）与端口（120）连接，端口（120）与所述的电磁继电器（13）的一个端口（132）连接，所述的电磁继电器（13）的另一个端口（131）与所述的交流电源（10）连接，形成控制回路。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试元器件老化的通断控制器，其特征在于：所述时间继电器（11）的端口（111）和（110）吸合时间由通电开关控制，所述的时间继电器（11）的端口（112）和（110）吸合时间由断电开关控制，对所述的时间继电器（11）的通电开关及断电开关的设置，控制电路通断时间，并产生计数信号；所述的计数继电器（12）的端口（121）和（120）吸合时间由计数器控制；对所述的计数继电器（12）的循环次数计数器进行设置，控制电路通断循环次数。