[实用新型]用于测试元器件老化的通断控制器

说明书

技术领域

本实用新型是涉及电路自动通断控制领域，特别是一种适用于电子元器件老化测试用的通断控制器。

背景技术

生产电子元器件的厂家，如生产小型电阻、小型熔断器的厂家，一般都需要对产品进行老化测试，也叫耐久性测试。测试的方法是将被测元件接入测试电路中，让被测元件通电一段时间，再断电一段时间，如此反复多个循环以此来检验被测元件的耐久性，要实现电路的反复通断就需要使用一种可以反复开关的通断控制器。一般的，进行上述测试的设备都是大型的集成设备，设备成本高，维修困难，而且耗能高。

发明内容

本实用新型的目的是解决现有技术存在的问题，提供一种用于测试元器件老化的通断控制器。本实用新型设计一种接入测试电路的通断控制器，结构简单，性能稳定，易于实现。

实现本实用新型目的的技术方案是一种用于测试元器件老化的通断控制器，包括交流电源、时间继电器、计数继电器及电磁继电器组成，所述的交流电源与所述的时间继电器的一个端口111连接，端口111与端口110相连通，所述端口110与所述的计数继电器的一个端口121连接，端口121与端口120连接，端口120与所述的电磁继电器的一个端口132连接，所述的电磁继电器的另一个端口131与所述的交流电源连接，形成控制回路。

所述时间继电器的端口111和110吸合时间由通电开关控制，所述的时间继电器的端口112和110吸合时间由断电开关控制，对所述的时间继电器的通电开关及断电开关的设置，控制电路通断时间，并产生计数信号；所述的计数继电器的端口121和120吸合时间由计数器控制；对所述的计数继电器的循环次数计数器进行设置，控制电路通断循环次数。

采用了上述技术方案，本实用新型具有以下的有益效果：接入测试电路的通断控制器，反复接通和断开通过待测元件的电流，从而取代高耗能的大型的集成设备，结构简单；因为时间继电器11与计数继电器12都是集成器件，性能十分稳定，通断时间最低可以控制在100毫秒左右，最高可以达到990小时，循环次数可以计到999900次，可以满足绝大多数时间控制要求；测试回路端，用到了HHC71B电磁继电器，额定电流为40A，若用更大电磁继电器更换HHC71B继电器，则可以实现更大的测试电流。

附图说明

为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中

图1为本实用新型电路原理图。

图2 为本实用新型电路实际接线图。

附图中标号为：

10、交流电源11、时间继电器12、计数继电器13、电磁继电器HHC71B110、时间继电器端口111、时间继电器端口112、时间继电器端口120、计数继电器端口121、计数继电器端口122、计数继电器端口131、电磁继电器端口132、电磁继电器端口133、电磁继电器端口134、电磁继电器端口。

具体实施方式

（实施例1）