[实用新型]测试治具的快速升降结构有效
申请号: | 201320243345.0 | 申请日: | 2013-05-08 |
公开(公告)号: | CN203232051U | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 萧德兴 | 申请(专利权)人: | 萧德兴 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R1/04 |
代理公司: | 北京天平专利商标代理有限公司 11239 | 代理人: | 孙刚 |
地址: | 中国台湾彰化县二*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 快速 升降 结构 | ||
1.一种测试治具的快速升降结构,其特征在于包括:
一基座,固定于供被检测物检测使用的座体上,该基座凹设有一滑穴,并贯穿一轴孔;
一滑座,滑置于该基座的滑穴中;以及
一联动轴,含有一轴段,该轴段枢装于该基座的轴孔中,并于该轴段的第一端轴向地突伸一联动段,该联动段轴向套接该滑座,并该联动轴的联动段与滑座上设有至少一组对应的导引槽及导销,该导销伸入于该导引槽中,且该导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向的平面上时相隔一距离以于旋转该联动轴时驱使该导销于该导引槽中产生相对滑移而驱使该滑座沿该滑穴升降。
2.如权利要求1所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该基座于其两相对侧分别枢装一扣钩,并两该扣钩与该基座间分别弹性地顶撑有弹簧。
3.如权利要求1所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该滑座轴向地凹设有一容许该联动轴的联动段伸入于内的轴穴,并该滑座的底部形成一能迫压于该被检测物上的压制面。
4.如权利要求1所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该联动轴的轴段与该联动段间形成一挡肩,并该轴段穿出该基座的轴孔后该轴段的第二端锁接一旋钮。
5.如权利要求4所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该轴段的第二端呈等角度地环状排列凹设有多个固定孔,而该旋钮上穿设有能对应锁接于不同固定孔以决定该联动段与该滑座间相对位置的固定穿孔。
6.如权利要求1所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该导销径向地穿置于该联动轴的联动段上且向外径向突出该联动段,而该导引槽径向穿设于该滑座的轴穴上。
7.如权利要求1所述的测试治具的快速升降结构,其特征在于,该导销径向地突设在滑座上,而该导引槽径向穿设于该联动轴的联动段上。
8.如权利要求1所述测试治具的快速升降结构,其特征在于,于该联动段与滑座上对应地设置多组相对应的导销及导引槽。
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