[实用新型]测试治具的快速升降结构

说明书

技术领域

本实用新型有关于一种测试治具的快速升降结构，尤指一种藉由旋转联动轴一小于360度的角度后，便可以联动一滑座呈无段快速地完成总升降位移行程，并使该滑座可以确实地迫紧被检测物，使该被检测物可以与对应的检测用的探针确实地电性连接。

背景技术

目前应用于检测如中央处理器等电子装置的治具，通常是含有一基座，该基座固定于用以检测该电子装置的治具座体上，于该基座中，螺设有一螺杆，并于该螺杆的末端枢装有一压制盘，如是操作者可以藉由旋转该螺杆，使该压制盘紧压在电子装置上，使该电子装置可以与检测的探针呈电性接触，以完成检测工作。

惟上述的检测所应用的治具，由于基座所螺合的螺杆，其螺距通常为0.5～1mm，因此，当要驱使该压制盘位移4～5mm时，便必须旋转该螺杆4～5圈，在操作上除了十分不方便、费时外，由于螺杆与基座间，一定存在着些许的螺隙，在长期使用后，螺隙更形加大，因此在检测的过程难免会生晃动，而影响检测的准确度，而显有改进的必要。

本实用新型的创作人有鉴于此，乃予研究创新，而揭示出本实用新型所示测试治具的快速升降结构。

实用新型内容

本实用新型的目的旨在提供一种测试治具的快速升降结构，其结构简单、组装容易，能进行快速、无段地升降，可在旋转该旋钮小于360度时完成所有升降行程的操作，使操作更为快速；且能应用不同的检测条件，适用更加广泛。

为实现上述目的，本实用新型公开了一种测试治具的快速升降结构，其特征在于包括：

一基座，固定于供被检测物检测使用的座体上，该基座凹设有一滑穴，并贯穿一轴孔；

一滑座，滑置于该基座的滑穴中；以及

一联动轴，含有一轴段，该轴段枢装于该基座的轴孔中，并于该轴段的第一端轴向地突伸一联动段，该联动段轴向套接该滑座，并该联动轴的联动段与滑座上设有至少一组对应的导引槽及导销，该导销伸入于该导引槽中，且该导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向的平面上时相隔一距离以于旋转该联动轴时驱使该导销于该导引槽中产生相对滑移而驱使该滑座沿该滑穴升降。

其中，该基座于其两相对侧分别枢装一扣钩，并两该扣钩与该基座间分别弹性地顶撑有弹簧。

其中，该滑座轴向地凹设有一容许该联动轴的联动段伸入于内的轴穴，并该滑座的底部形成一能迫压于该被检测物上的压制面。

其中，该联动轴的轴段与该联动段间形成一挡肩，并该轴段穿出该基座的轴孔后该轴段的第二端锁接一旋钮。

其中，该轴段的第二端呈等角度地环状排列凹设有多个固定孔，而该旋钮上穿设有能对应锁接于不同固定孔以决定该联动段与该滑座间相对位置的固定穿孔。

其中，该导销径向地穿置于该联动轴的联动段上且向外径向突出该联动段，而该导引槽径向穿设于该滑座的轴穴上。

其中，该导销径向地突设在滑座上，而该导引槽径向穿设于该联动轴的联动段上。

其中，于该联动段与滑座上对应地设置多组相对应的导销及导引槽。

本实用新型令导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向的平面上时，相隔一距离，使旋转联动轴时，可驱使导销于导引槽中产生相对滑移，而使滑座沿滑穴快速地升降，以快速迫紧或释放被检测物。

本实用新型所揭示测试治具的快速升降结构，其中该基座，于其两相对侧，分别枢装一扣钩，并令两该扣钩与该基座间，分别弹性地顶撑一弹簧，使两该扣钩的末端勾扣部，相对并合，以紧夹于供被检测物检测使用的座体上。

本实用新型所揭示测试治具的快速升降结构，其中该滑座，轴向地凹设有一轴穴，以容许该联动轴的联动段伸入于内，并令该滑座的底部，形成一压制面，以迫压被检测物。

本实用新型所揭示测试治具的快速升降结构，其中该联动轴的轴段与该联动段间，形成一挡肩，并使该轴段穿出该基座的轴孔后，令该轴段的第二端锁接一旋钮，以供操作者藉由旋转该旋钮，达到联动该联动轴旋转的目的。本实用新型所揭示的轴段，其第二端呈等角度的环状排列凹设有多个固定孔，藉由不同固定孔与旋钮对应锁接，以决定该联动段与该滑座间的相对位置，以调整该滑座滑动时的起始相对位置，以因应不同的检测条件之需。

本实用新型所揭示测试治具的快速升降结构，其中设置于该联动段与滑座上的各组对应的导销及导引槽，可令该导销径向地穿置于该联动轴的联动段上，且向外径向突出该联动段；而该导引槽径向穿设于该滑座的轴穴的穴壁上，且令该导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向平面上时，相隔一距离，界定为该滑座滑动的总行程。上述的导引槽的两端，分别延伸一水平段，使该导销相对移入该水平段时，可制动该滑座轴向位移。