[实用新型]用于晶体管电流及电压测试的测试设备有效

专利信息
申请号: 201320307143.8 申请日: 2013-05-30
公开(公告)号: CN203275497U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 张玉军 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 晶体管 电流 电压 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备,其特征在于,所述测试设备包括:

光源本体;

用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置,所述图像采集装置包括图像采集镜头;

位置可调节的探针,对所述待测位置进行电流及电压测试时,所述探针位于所述待测位置处;

用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计,所述分光计连接有出光光纤,所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。

2.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述图像采集装置还包括:图像传感器及镜座。

3.如权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述图像传感器为电荷耦合器件图像传感器。

4.如权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述出光光纤固定于所述镜座上。

5.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试设备还包括:

用于记录所述固定距离的存储装置;以及

用于根据所述固定位置移动设置所述探针的探针台,使所述探针与所述出光光纤的光纤镜头相对位的移动装置。

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