[实用新型]一种斜面探测的测试探针结构有效
| 申请号： | 201320357734.6 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN203350302U | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 冯白华;贾延蝶;王振波 | 申请（专利权）人： | 深圳市三一联光自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市国科知识产权代理事务所(普通合伙) 44296 | 代理人： | 陈永辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 斜面 探测 测试 探针 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种斜面探测的测试探针结构，它包括有两探针套，其特征在于：所述两探针套内分别固定有一测试探针，两测试探针相对设置，所述两测试探针的顶端均具有一斜面，该斜面与水平面的夹角小于90°，所述两测试探针可将测试元件夹持并进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种斜面探测的测试探针结构，其特征在于：所述测试探针还具有顶面与底面，所述顶面与斜面的夹角为A，所述底面与斜面的夹角为B，其中，所述夹角A<90°，夹角B>90°。
3.根据权利要求2所述的一种斜面探测的测试探针结构，其特征在于：所述夹角A=80°，所述夹角B=100°。
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