[实用新型]一种斜面探测的测试探针结构

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及测试探针技术领域，更具体的说，本实用新型涉及一种斜面探测的测试探针结构。

【背景技术】

在元器件测试技术领域中，经常需要用测试探针对元器件进行各种参数的测试。现有测试探针10多为垂直平面的，参照图1所示，与元件20接触时为面接触，由于元件20引脚的差异和探测时位置的偏差，使测试探针10与元件20引脚接触有时是比较大面积的面接触，有时是小面积的面接触，有时还可能是线接触或点接触，这样就存在不稳定的因素，影响测试精度。另外，当两边的测试探针10不同时接触到元件时，还会使元件浮起或一端翘起来，这样也使测试结果不准确。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于有效克服上述技术的不足，提供一种可提高测试精度的斜面探测的测试探针结构，该探针结构在于测试元件接触时，可防止测试元件浮起或向上翘起，提高测试的精度。

本实用新型的技术方案是这样实现的：它包括有两探针套，其改进之处在于：所述两探针套内分别固定有一测试探针，两测试探针相对设置，所述两测试探针的顶端均具有一斜面，该斜面与水平面的夹角小于90°，所述两测试探针可将测试元件夹持并进行测试；

在上述的结构中，所述测试探针还具有顶面与底面，所述顶面与斜面的夹角为A，所述底面与斜面的夹角为B，其中，所述夹角A<90°，夹角B>90°；

在上述的结构中，所述夹角A=80°，所述夹角B=100°。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型通过在测试探针的顶端设置一斜面，该斜面与水平面的夹角小于90°，此种结构的设计，可保证测试探针与测试元件接触时均为线接触，不存在不稳定的因素，大大的提高了测试精度，同时，由于此种斜面的设计，当测试探针与测试元件接触时，测试探针会对测试元件产生一个向下的分力，可防止测试元件的一端浮起或者翘起，提高测试精度，本实用新型通过简单结构的设计，几乎不会增加产品的成本，使得测试精度很大的提高。

【附图说明】

图1为现有技术中的测试探针结构；

图2为本实用新型的正面视图；

图3为图2中C处的局部放大图。

【具体实施方式】

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。

参照图2所示，本实用新型揭示了一种斜面探测的测试探针结构，该测试探针结构包括有两探针套30，且两探针套30对称设置，两探针套30内分别固定有一测试探针40，两测试探针40相对设置，参照图3所示，两测试探针40的顶端均具有一斜面401，该斜面401与水平面的夹角小于90°，两测试探针40可将测试元件50夹持并进行测试。在本实施例中，测试探针40具有顶面402与底面403，顶面402与斜面401的夹角为A，底面403与斜面401的夹角为B，其中，所述夹角A<90°，夹角B>90°，优选地，所述夹角A=80°，所述夹角B=100°。

本实用新型通过上述结构的设计，在对测试元件50进行测试时，可保证测试探针40与测试元件50接触时均为线接触，不存在不稳定的因素，大大的提高了测试精度，同时，由于此种斜面401的设计，当测试探针40与测试元件50接触时，测试探针40会对测试元件50产生一个向下的分力，可防止测试元件50的一端浮起或者翘起，提高测试精度，本实用新型通过简单结构的设计，几乎不会增加产品的成本，使得测试精度很大的提高。

以上所描述的仅为本实用新型的较佳实施例，上述具体实施例不是对本实用新型的限制。在本实用新型的技术思想范畴内，可以出现各种变形及修改，凡本领域的普通技术人员根据以上描述所做的润饰、修改或等同替换，均属于本实用新型所保护的范围。