[实用新型]一种基于LXI总线的数字测试装置有效
| 申请号： | 201320359842.7 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN203313210U | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 郭敏敏;梅敏鹏;白雪;张红兵 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 朱小兵 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 lxi 总线 数字 测试 装置 | ||
1.一种基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：包括控制模块、触发模块、DDS模块、FPGA模块、SRAM存储器、驱动器、设备连接端，其中控制模块、触发模块、DDS模块分别与FPGA模块相连；所述FPGA模块与SRAM存储器相连；所述SRAM存储器与驱动器、设备连接端依次相连；所述设备连接端与外部被测设备连接。
2.根据权利要求1所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述控制模块包括控制终端和LXI接口电路，所述控制终端与LXI接口电路相连；所述LXI接口电路与FPGA模块相连。
3.根据权利要求2所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述LXI接口电路包括RJ45接口、网络物理层芯片、RS232电平转换芯片、DB9调试接口、ARM处理器、Flash电路、SDRAM电路，晶振电路，其中RJ45接口与网络物理层芯片相互连接；所述DB9调试接口与RS232电平转换芯片相互连接；所述网络物理层芯片和RS232电平转换芯片均与ARM处理器相互连接；所述Flash电路、SDRAM电路、晶振电路分别与ARM处理器相互连接；所述ARM处理器与FPGA模块相互连接。
4.根据权利要求3所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述LXI接口电路还包括复位电路，所述复位电路与ARM处理器连接。
5.根据权利要求3所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述LXI接口电路还包括实时钟电路，所述实时钟电路与ARM处理器相互连接。
6.根据权利要求3所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述LXI接口电路还包括JTAG电路，所述JTAG电路与ARM处理器相互连接。
7.根据权利要求1或2所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述FPGA模块包括中央译码控制单元、地址产生单元、时钟选择单元、ZBT RAM控制单元，其中中央译码控制单元分别与地址产生单元、时钟选择单元、ZBT RAM控制单元连接；所述时钟选择单元、地址产生单元分别与ZBT RAM控制单元连接；所述ZBT RAM控制单元与SRAM存储器相连。
8.根据权利要求7所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述ZBT RAM控制单元包括依次连接的接口信号传输模块、流水线延时控制模块、地址数据输出模块、数据存储模块。
9.根据权利要求1或2所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述触发模块包括M-LVDS收发器，所述M-LVDS收发器的一端与外部线触发总线连接，M-LVDS收发器的另一端与FPGA模块相互连接。
10. 根据权利要求1或2所述的基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：所述SRAM存储器包括用于数据输入的第一存储器、用于数据输出的第二存储器、用于数据控制的第三存储器。
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