[实用新型]一种基于LXI总线的数字测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种数字测试装置，特别涉及一种基于LXI总线的数字测试装置，属于数据域测试的技术领域。

背景技术

随着计算机和超大规模系统的发展，集成电路的测试也越来越困难。传统的测试方法难以有效工作，测试领域出现了数据域测试技术。传统的时域、频域测试主要以模拟电路与系统作为研究和应用对象，而数据域测试则针对数字电路与计算机逻辑。事实上，数据域测试就是对数字电路和数字系统进行故障诊断、定位、分析和诊断。数据域测试通常采用数字信号发生器提供激励并使用逻辑分析仪采集响应数据，这种测试方法存在着体积庞大、不容易扩展通道、价格昂贵、难在激励和响应之间建立复杂的逻辑关系的问题，所以现代自动测试系统中需要功能更加强大的高速数字测试仪器。

LXI模块化测试标准规范融合了GPIB仪器的高性能、VXI/PXI卡式仪器的小体积以及LAN的高速数据吞吐率，并考虑了定时、触发、冷却、电磁兼容等仪器要求，是基于以太网络的新一代自动测试系统模块化构架平台标准。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供了一种基于LXI总线数字测试装置，用户可以通过网络对装置进行网络配置、数据控制等相关操作，并连入被测设备，为被测设备内的数字系统性能测试、现场调试、故障诊断提供有价值的试验依据。具有使用简单，易于模块化、通用化和灵活化等的优点。

本实用新型具体采用以下技术方案解决上述技术问题：

一种基于LXI总线的数字测试装置，包括控制模块、触发模块、DDS模块、FPGA模块、SRAM存储器、驱动器、设备连接端，其中控制模块、触发模块、DDS模块分别与FPGA模块相连；所述FPGA模块与SRAM存储器相连；所述SRAM存储器与驱动器、设备连接端依次相连；所述设备连接端与外部被测设备连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述控制模块包括控制终端和LXI接口电路，所述控制终端与LXI接口电路相连；所述LXI接口电路与FPGA模块相连。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述LXI接口电路包括RJ45接口、网络物理层芯片、RS232电平转换芯片、DB9调试接口、ARM处理器、Flash电路、SDRAM电路，晶振电路，其中RJ45接口与网络物理层芯片相互连接；所述DB9调试接口与RS232电平转换芯片相互连接；所述网络物理层芯片和RS232电平转换芯片均与ARM处理器相互连接；所述Flash电路、SDRAM电路、晶振电路分别与ARM处理器相互连接；所述ARM处理器与FPGA模块相互连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述LXI接口电路还包括复位电路，所述复位电路与ARM处理器连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述LXI接口电路还包括实时钟电路，所述实时钟电路与ARM处理器相互连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述LXI接口电路还包括JTAG电路，所述JTAG电路与ARM处理器相互连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述FPGA模块包括中央译码控制单元、地址产生单元、时钟选择单元、ZBT RAM控制单元，其中中央译码控制单元分别与地址产生单元、时钟选择单元、ZBT RAM控制单元连接；所述时钟选择单元、地址产生单元分别与ZBT RAM控制单元连接；所述ZBT RAM控制单元与SRAM存储器相连。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述ZBT RAM控制单元包括依次连接的接口信号传输模块、流水线延时控制模块、地址数据输出模块、数据存储模块。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述触发模块包括M-LVDS收发器，所述M-LVDS收发器的一端与外部线触发总线连接，M-LVDS收发器的另一端与FPGA模块相互连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案：所述SRAM存储器包括用于数据输入的第一存储器、用于数据输出的第二存储器、用于数据控制的第三存储器。

本装置能够在数字系统的设备调试和故障诊断中根据实际需要，对目标系统施加数字激励，捕获系统产生的响应数据，为数字系统性能测试、现场调试、故障诊断提供有价值的试验依据，又可单独作为逻辑分析仪和多路数字信号发生器使用。该发明中主要可以实现以下功能： 多通道逻辑发生器、多通道时序发生器、多通道逻辑信号采集与逻辑分析、 多通道时序仿真、高速时序捕捉、器件部分功能仿真。