[实用新型]IC测试座

权利要求书

1.IC测试座，其特征在于，包括测试架（1）和连接件（2），所述测试架（1）上设有凹槽（12），所述连接件（2）位于凹槽（12）的下方，所述连接件（2）包括导电柱（21）和绝缘骨架（22），所述导电柱（21）分布在绝缘骨架（22）上，所述导电柱（21）和绝缘骨架（22）为一体成型结构。 

2.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于，所述导电柱（21）呈阵列状分布在绝缘骨架（22）上。 

3.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于，所述连接件（2）的厚度为1～2mm。 

4.根据权利要求1所述的IC测试座，其特征在于，还包括固定架（3），所述固定架（3）上设有定位槽（31），所述定位槽（31）与连接件（2）相匹配，所述固定架（3）与连接件（2）固定相连。 

5.根据权利要求4所述的IC测试座，其特征在于，所述固定架（3）相对应的两端上分别设有第一定位孔（32）和第二定位孔（33），所述测试架（1）的下表面上设有与第一定位孔（32）相匹配的第一定位销（14）和与第二定位孔（33）相匹配的第二定位销（15）。 

6.根据权利要求5所述的IC测试座，其特征在于，所述第一定位孔（32）的直径小于第二定位孔（33）的直径。 

7.根据权利要求4所述的IC测试座，其特征在于，所述固定架（3）的一个角为斜角（34）。 

8.根据权利要求4所述的IC测试座，其特征在于，所述固定架（3）为金属固定架。 

9.根据权利要求1～8任一项所述的IC测试座，其特征在于，所述测试架（1）的下表面上设有固定柱（13）。