[实用新型]一种PCB板内外层线路量测仪有效

专利信息
申请号: 201320479837.X 申请日: 2013-08-07
公开(公告)号: CN203405180U 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 陈忠一 申请(专利权)人: 昱鑫科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 215000 江苏省苏州市吴中区*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 外层 线路 量测仪
【权利要求书】:

1.一种PCB板内外层线路量测仪,其特征在于,包括带有光源的偏振干涉共焦显微装置、具有量测功能的工业相机、FPGA相位卡和计算机,所述工业相机用于捕捉所述偏振干涉共焦显微装置产生的测量信号并传送至所述FPGA相位卡,所述FPGA相位卡用于对所述测量信号进行相位测量,将含有PCB板内层或外层线路中待测线条台阶边缘位置信息的相位变化数据传送至所述计算机。

2.根据权利要求1所述的PCB板内外层线路量测仪,其特征在于:所述偏振干涉共焦显微装置包括横向塞曼激光器、分束器、第一探测器、第一透镜、第一针孔、第二透镜、反射棱镜、显微物镜、半透半反镜、检偏器、聚光透镜、第三探测器、第三透镜、第二针孔和第二探测器;其中,所述横向塞曼激光器作为光源发出的一对正交线偏振光,通过所述分束器后分成反射光和透射光,反射光进入所述第一探测器作为参考信号,透射光经过所述第一透镜汇聚到所述第一针孔上,并通过所述第二透镜变成平行光束,平行光束经所述反射棱镜反射后经所述显微物镜被聚焦在所述PCB板上,被聚焦后的光线被所述PCB板反射后再次经所述显微物镜变回平行光,并被所述半透半反镜分成两部分:透射部分通过所述反射棱镜在所述检偏器上发生干涉,干涉光经所述聚光透镜聚焦后进入所述第三探测器产生测量信号,通过与所述第一探测器产生的参考信号进行比相位测量,得到台阶边缘相位变化信息;反射部分由所述第三透镜汇聚到所述第二针孔上,由所述第二探测器接收得到光强信号。

3.根据权利要求2所述的PCB板内外层线路量测仪,其特征在于:所述横向塞曼激光器为低频差横向塞曼He-Ne激光器。

4.根据权利要求2所述的PCB板内外层线路量测仪,其特征在于:所述反射棱镜为半孔径反射棱镜。

5.根据权利要求2所述的PCB板内外层线路量测仪,其特征在于:所述第二探测器产生的光强信号经由一锁相放大器放大后传送至所述计算机。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昱鑫科技(苏州)有限公司,未经昱鑫科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320479837.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top