[实用新型]一种高倍密电测治具有效
申请号: | 201320483344.3 | 申请日: | 2013-08-08 |
公开(公告)号: | CN203350280U | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 李齐明 | 申请(专利权)人: | 柏承电子(惠阳)有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R1/073 |
代理公司: | 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 | 代理人: | 龚明明 |
地址: | 516005 广东省惠州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高倍 密电 测治具 | ||
1.一种高倍密电测治具,其特征在于:包括用于承载PCB的测试面板(1)、与机台对位的底层板(2),在测试面板(1)与底层板(2)之间设有若干导引层板(3),导引层板(3)之间以及导引层板(3)与底层板(1)之间分别设有对位支撑柱(4),在测试面板(1)、底层板(2)和导引层板(3)上设有若干通孔,若干测试针(7)行经测试面板(1)、导引层板(3)、底层板(2)上的通孔。
2.根据权利要求1所述的高倍密电测治具,其特征是:所述测试针(7)倾斜的插入。
3.根据权利要求1或2所述的高倍密电测治具,其特征是:所述承载PCB的测试面板及安置在机台上与之对位的底层板上设有沉孔(5)。
4.根据权利要求3所述的高倍密电测治具,其特征是:所述底层板(2)上设有莱卡布(6)。
5.根据权利要求4所述的高倍密电测治具,其特征是:所述测试面板(1)与底层板(2)之间设有七层导引层板(3)。
6.根据权利要求5所述的高倍密电测治具,其特征是:所述对位支撑柱(4)包括有高对位支撑柱和低对位支撑柱。
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