[实用新型]一种高倍密电测治具有效

专利信息
申请号: 201320483344.3 申请日: 2013-08-08
公开(公告)号: CN203350280U 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 李齐明 申请(专利权)人: 柏承电子(惠阳)有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R1/073
代理公司: 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 代理人: 龚明明
地址: 516005 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 高倍 密电 测治具
【权利要求书】:

1.一种高倍密电测治具,其特征在于:包括用于承载PCB的测试面板(1)、与机台对位的底层板(2),在测试面板(1)与底层板(2)之间设有若干导引层板(3),导引层板(3)之间以及导引层板(3)与底层板(1)之间分别设有对位支撑柱(4),在测试面板(1)、底层板(2)和导引层板(3)上设有若干通孔,若干测试针(7)行经测试面板(1)、导引层板(3)、底层板(2)上的通孔。

2.根据权利要求1所述的高倍密电测治具,其特征是:所述测试针(7)倾斜的插入。

3.根据权利要求1或2所述的高倍密电测治具,其特征是:所述承载PCB的测试面板及安置在机台上与之对位的底层板上设有沉孔(5)。

4.根据权利要求3所述的高倍密电测治具,其特征是:所述底层板(2)上设有莱卡布(6)。

5.根据权利要求4所述的高倍密电测治具,其特征是:所述测试面板(1)与底层板(2)之间设有七层导引层板(3)。

6.根据权利要求5所述的高倍密电测治具,其特征是:所述对位支撑柱(4)包括有高对位支撑柱和低对位支撑柱。

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