[实用新型]光学玻璃光学均匀性的测量装置有效
申请号: | 201320587523.1 | 申请日: | 2013-09-23 |
公开(公告)号: | CN203455277U | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 孙元成;宋学富;张晓强;王慧;杜秀蓉;刘铸熠 | 申请(专利权)人: | 中国建筑材料科学研究总院 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王伟锋;刘铁生 |
地址: | 100024*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学玻璃 光学 均匀 测量 装置 | ||
1.一种光学玻璃光学均匀性的测量装置,所述光学玻璃由应力导致折射率不同,其特征在于,所述测量装置,包括:
光源组件,用于提供偏振光;
干涉色形成组件,用于使发生双折射的所述偏振光形成干涉色;
相位补偿器,用于产生不同的光程差;
CCD摄像头,用于拍摄干涉色图像;以及
计算机,用于获取及处理所述干涉色图像。
2.根据权利要求1所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于:
所述的干涉色形成组件,包括检偏器;
所述的光源组件,包括;
光源;以及
起偏器,位于所述光源及所述检偏器之间,所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向互相垂直;
所述光源、所述起偏器及所述检偏器位于同一光路中。
3.根据权利要求2所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于,所述光源组件,还包括:
第一凸透镜,位于所述光源与所述起偏器之间;
散射板,位于所述第一凸透镜与所述起偏器之间;
所述光源,位于所述第一凸透镜远离所述散射板一侧的焦点处。
4.根据权利要求2所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于,所述干涉色形成组件,还包括:
全玻片,位于所述起偏器与所述检偏器之间;
第二凸透镜;
所述检偏器,位于所述全玻片与所述第二凸透镜之间;
所述的CCD摄像头,位于所述第二凸透镜远离所述检偏器一侧的焦点处。
5.根据权利要求2所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于:
所述光源组件,还包括:
第一箱体,其设有一第一开口端;
所述的光源,位于所述第一箱体内,且远离所述第一开口端;
所述的起偏器,位于所述第一开口端;和/或
所述干涉色形成组件,还包括:
第二箱体,其设有一第二开口端,所述第二开口端与所述第一开口端相对;
所述的检偏器,位于所述第二开口端;
所述的CCD摄像头,位于所述第二箱体内,且远离所述第二开口端。
6.根据权利要求1-5任一项所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于,还包括:
基座;
所述光源组件,与所述基座一端连接;
所述干涉色形成组件,与所述基座的与所述光源组件相对的一端连接。
7.根据权利要求6所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置,其特征在于,还包括:
样品台,位于所述光源组件与所述干涉色形成组件之间,用于承载所述光学玻璃,通过丝杠与所述基座连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国建筑材料科学研究总院,未经中国建筑材料科学研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320587523.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:凝、倾点自动测定仪
- 下一篇:射频能量收集无线温度传感系统