[实用新型]光学玻璃光学均匀性的测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学玻璃光学均匀性的测量装置，属于光学玻璃检测领域，特别是涉及一种测量主要由应力导致折射率不同的光学玻璃的光学均匀性的装置及方法。

背景技术

光学玻璃的光学均匀性是指同一块玻璃内部折射率的不均匀程度。光学玻璃中存在元素或者化学键的不均匀分布时，产生的化学应力或结构应力会导致光学玻璃不同位置上的折射率不同，通常用光学玻璃各位置上最大折射率与最小折射率的差值Δn表示该光学玻璃的光学均匀性。光学均匀性是反映光学玻璃质量的重要参数，决定了光学玻璃的使用性能，也是表征光学玻璃结构均匀性的一种方法。在光学玻璃的生产、检验等环节，实现光学均匀性低成本、快速、简便的定量测量可以大大提高生产效率。

目前，光学玻璃均匀性的测试方法主要有平行光管法、星点法、刀口阴影法和干涉法。前三种测试方法均为定性分析方法。干涉法是使用干涉仪定量测量光学均匀性的方法。《无色光学玻璃测试方法光学均匀性斐索平面干涉法》（GBT7962.2-2010）是较为常用的光学玻璃均匀性的测试方法。该方法采用斐索平面干涉仪测量无色光学玻璃的光学均匀性，测量时，一部分光依次通过光学平晶、待测样品，并由标准反射镜反射后由原路返回，另一部分光由光学平晶直接反射回去，这两路光干涉后形成的干涉条纹即包含了待测样品的光学均匀性信息。

发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术至少存在以下缺陷：

现有干涉仪价格昂贵，测量成本高；用干涉法测量时，待测光学玻璃样品的表面需要进行抛光、涂覆折射液或贴制板等处理，以避免样品表面粗糙导致的无法形成干涉条纹的现象，测量工艺复杂，测量成本和测量难度都较高。

实用新型内容

本实用新型提供了一种光学玻璃光学均匀性的测量装置，所述光学玻璃由应力导致折射率不同，所述测量装置，包括：光源组件，用于提供偏振光；干涉色形成组件，用于使发生双折射的所述偏振光形成干涉色；相位补偿器，用于产生不同的光程差；CCD摄像头，用于拍摄干涉色图像；以及计算机，用于获取及处理所述干涉色图像。

较佳的，所述的干涉色形成组件，包括检偏器；所述的光源组件，包括；光源；以及起偏器，位于所述光源及所述检偏器之间，所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向互相垂直；所述光源、所述起偏器及所述检偏器位于同一光路中。

进一步的，所述光源组件，还包括：第一凸透镜，位于所述光源与所述起偏器之间；散射板，位于所述第一凸透镜与所述起偏器之间；所述光源，位于所述第一凸透镜远离所述散射板一侧的焦点处。

进一步的，所述干涉色形成组件，还包括：全玻片，位于所述起偏器与所述检偏器之间；第二凸透镜；所述检偏器，位于所述全玻片与所述第二凸透镜之间；所述的CCD摄像头，位于所述第二凸透镜远离所述检偏器一侧的焦点处。

进一步的，所述光源组件，还包括：第一箱体，其设有一第一开口端；所述的光源，位于所述第一箱体内，且远离所述第一开口端；所述的起偏器，位于所述第一开口端；所述干涉色形成组件，还包括：第二箱体，其设有一第二开口端，所述第二开口端与所述第一开口端相对；所述的检偏器，位于所述第二开口端；所述的CCD摄像头，位于所述第二箱体内，且远离所述第二开口端。

进一步的，所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置，还包括：基座；所述光源组件，与所述基座一端连接；所述干涉色形成组件，与所述基座的与所述光源组件相对的一端连接。

进一步的，所述的光学玻璃光学均匀性的测量装置，还包括：样品台，位于所述光源组件与所述干涉色形成组件之间，用于承载所述光学玻璃，通过丝杠与所述基座连接。

借由上述技术方案，本实用新型光学玻璃光学均匀性的测量装置至少具有下列优点：

本实用新型提供的光学玻璃光学均匀性的测量装置，通过利用光学玻璃双折射形成的干涉色图像，得到各像素点的折射率差值，从而获得光学玻璃的光学均匀性，该装置所用器件为较常用的光学器件，简单易得且成本低廉；双折射现象由光学玻璃内部应力造成，与光学玻璃表面平整度无关，因此，测量时无需对光学玻璃表面进行特殊处理，简化了测量步骤且进一步节约了成本。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的一光学玻璃光学均匀性的测量装置结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一光学玻璃光学均匀性的测量装置内部构造示意图；