[实用新型]一种区熔晶体生长用保温装置及区熔炉有效

专利信息
申请号: 201320627238.8 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN203593807U 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 冷先锋;王楠 申请(专利权)人: 北京京运通科技股份有限公司
主分类号: C30B13/00 分类号: C30B13/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶体生长 保温 装置 熔炉
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及区熔晶体生长设备的技术领域,特别涉及一种区熔晶体生长用保温装置及一种区熔炉。

背景技术

目前,区熔单晶硅的制备一般是在区熔炉中完成的,其原理为:将多晶硅棒竖直固定在上炉室的主轴上,下端对准固定在下炉室内轴上的籽晶,高频电流通过线圈与多晶硅棒耦合产生涡流,使多晶硅棒下端熔化,熔接籽晶,控制主轴向下移动,使多晶硅棒相对于熔区移动,从而生长成一根硅单晶。

目前,区熔法生长直径较小的高纯硅单晶,一般生长硅单晶的直径在153mm以下,通常在区熔炉内采用通水的铜环作为保温装置,通水的铜环固定于炉膛内的升降机构,并可随着升降机构的升降来调整保温位置,如图1所示,现有技术区熔晶体生长用保温装置的结构示意图,该保温装置包括一个铜环11,以及一根套于铜环11外并与铜环11固定连接的水管12,而现在研发的区熔法生长较大直径高纯硅单晶,一般生长硅单晶的直径在153mm以上,仍采用通水的铜环作为保温装置,由于单晶的直径增大,因此现有技术采用增加铜环的面积用来保温生长的单晶,但是因为铜具有较高的导热率,硅单晶生长达到较大直径,热量扩散过快,导致单晶扩到大直径出现炸裂。

现有技术的缺陷在于,通水的铜环作为保温装置,容易造成铜环内单晶长大后开裂,导致单晶的成品率较低。

实用新型内容

本实用新型提供了一种区熔晶体生长用保温装置及区熔炉,用以解决热量扩散过快造成单晶开裂的问题,从而提高单晶的成品率。

本实用新型包括:

一种区熔晶体生长用保温装置,包括:

金属环;

套于所述金属环外侧并与所述金属环导热接触的水管;

套于所述金属环内侧并与所述金属环导热接触的保温罩,所述保温罩的导热率小于所述金属环的导热率。

在本实用新型技术方案中,在金属环内侧有与金属环导热接触保温罩,由于保温罩的导热率小于外侧金属环的导热率,因此,保温罩内可较好维持一定的热量,降低保温罩内单晶开裂的概率,提高单晶的成品率。

优选的,所述保温罩为筒状保温罩,所述筒状保温罩的一端具有翻向外侧的外沿,并且所述外沿与所述金属环搭接。

在本实用新型优选的技术方案中,保温罩的结构可以有多种,只要方便与金属环导热接触即可,优选采用一端具有外沿的筒状结构,外沿可搭于金属环上,方便保温罩的安装和拆卸。

优选的,所述筒状保温罩的高度范围为200~260毫米,所述筒状保温罩的外径范围为220~280毫米。

在本实用新型优选的技术方案中,保温罩的尺寸可根据保温罩内生长的单晶直径而确定,对于较大直径的单晶生长,为了防止单晶开裂,一般筒状保温罩的高度范围选为200~260毫米,筒状保温罩的外径范围为220~280毫米。

优选的,所述金属环为铜环。

在本实用新型优选的技术方案中,金属环的材质可以有多种,如铁环、钢环等,金属环优选为铜环,可以在现有的通水铜环内直接增加一个保温罩,达到防止单晶开裂的目的。

优选的,所述保温罩为陶瓷保温罩。

在本实用新型优选的技术方案中,保温罩的材质可以有很多,只要比金属环的导热率低就可以,优选采用陶瓷保温罩,由于陶瓷的导热率低于金属的导热率,并且陶瓷耐高温,因此很适合作为保温罩。

更优选的,所述陶瓷保温罩为石英保温罩。

在本实用新型更优选的技术方案中,陶瓷保温罩选用石英保温罩,由于石英的导热率低于金属的导热率,并且石英耐高温具有刚性,因此很适合作为保温罩。

优选的,对上述任一种区熔晶体生长用保温装置,所述金属环与所述水管焊接。

本实用新型区熔炉,包括可升降的传动装置,还包括上述任一种区熔晶体生长用保温装置,所述区熔晶体生长用保温装置的水管固定于所述传动装置。

本实用新型的区熔炉内具有上述任一种区熔晶体生长用保温装置,保温装置可以随区熔炉内的传动装置的升降来调整保温位置,因此,在区熔炉内生长单晶时,可以降低单晶开裂的概率,从而提高了单晶的成品率。

附图说明

图1为现有技术区熔晶体生长用保温装置的结构示意图;

图2为本实用新型实施例的区熔晶体生长用保温装置的立体结构示意图;

图3为本实用新型实施例的区熔晶体生长用保温装置的主视图。

附图标记:

1-金属环           2-水管              3-保温罩

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