[实用新型]一种测试芯片供电电源可靠性的装置有效
| 申请号： | 201320642340.5 | 申请日： | 2013-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN203519804U | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 洪献珍 | 申请（专利权）人： | 迈普通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R31/26 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人： | 李顺德 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 供电 电源 可靠性 装置 | ||
1.一种测试芯片供电电源可靠性的装置，所述装置串接在芯片供电回路上，其特征在于，所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一触点、用于连接供电电源的第二触点、用于降低电压的衰减器，所述衰减器安装在基板上，其引脚分别与第一触点和第二触点电连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述衰减器由电感构成。
3.根据权利要求2所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述电感为磁珠电感。
4.根据权利要求1所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述衰减器由电阻构成。
5.根据权利要求1所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述衰减器由电阻和电感串联构成。
6.根据权利要求4或5所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述电阻为可变电阻。
7.根据权利要求6所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述可变电阻为线性可变电阻。
8.根据权利要求7所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述线性可变电阻阻值范围为0～1kΩ。
9.根据权利要求1所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述基板为印刷电路板。
10.根据权利要求1所述的一种测试芯片供电电源可靠性的装置，其特征在于，所述第一触点和第二触点具有弹性结构。
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